區(qū)分芯片高低溫測(cè)試箱內(nèi)膽材料
芯片高低溫測(cè)試箱主要適用于工業(yè)產(chǎn)品的高溫、低溫可靠性試驗(yàn)。電子電工、航空航天、船舶、高校、科研機(jī)構(gòu)等相關(guān)產(chǎn)品的零部件和材料可在高溫、低溫循環(huán)交替過(guò)程中檢驗(yàn)其性能指標(biāo)。設(shè)備內(nèi)膽材料為不銹鋼板,不銹鋼板也分為不同類型,主要區(qū)別如下:
![]() | 東莞市柳沁檢測(cè)儀器有限公司 |
![]() |
芯片高低溫測(cè)試箱主要適用于工業(yè)產(chǎn)品的高溫、低溫可靠性試驗(yàn)。電子電工、航空航天、船舶、高校、科研機(jī)構(gòu)等相關(guān)產(chǎn)品的零部件和材料可在高溫、低溫循環(huán)交替過(guò)程中檢驗(yàn)其性能指標(biāo)。設(shè)備內(nèi)膽材料為不銹鋼板,不銹鋼板也分為不同類型,主要區(qū)別如下:
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼