X熒光光譜儀XRF技術(shù)原理與工作流程

時(shí)間：2024/4/16閱讀：920

　X熒光光譜儀XRF 是一種用于元素分析的儀器，可以檢測(cè)樣品中的元素種類(lèi)和含量。

　　一、技術(shù)原理

　　X熒光光譜儀XRF 基于X射線熒光的原理。當(dāng)樣品受到高能X射線照射時(shí)，樣品中的原子會(huì)被激發(fā)并發(fā)射出二次X射線，這種現(xiàn)象稱為X射線熒光。每種元素的原子都有熒光發(fā)射譜線，因此可以通過(guò)測(cè)量這些譜線的強(qiáng)度來(lái)確定樣品中元素的種類(lèi)和含量。

　　二、工作流程

　　1.樣品準(zhǔn)備：將樣品置于樣品臺(tái)上，確保樣品表面平整并與探測(cè)器相對(duì)。

　　2.激發(fā)源產(chǎn)生：光譜儀中的X射線管產(chǎn)生高能X射線，照射到樣品上。

　　3.熒光發(fā)射：樣品中的原子吸收X射線能量后，被激發(fā)到高能級(jí)。當(dāng)原子退回到低能級(jí)時(shí)，會(huì)發(fā)射出具有特定波長(zhǎng)的熒光X射線。

　　4.信號(hào)檢測(cè)：探測(cè)器接收樣品發(fā)射的熒光X射線，將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。

　　5.數(shù)據(jù)處理：將探測(cè)器收集到的電信號(hào)進(jìn)行放大、數(shù)模轉(zhuǎn)換等處理，得到樣品中各元素的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。

　　6.結(jié)果分析：根據(jù)各元素的熒光強(qiáng)度，通過(guò)預(yù)先建立的標(biāo)準(zhǔn)曲線或校準(zhǔn)模型，計(jì)算出樣品中各元素的含量。

　　三、特點(diǎn)

　　1.分析速度快：可以在幾分鐘內(nèi)同時(shí)分析樣品中的多種元素。

　　2.分析范圍廣：可以分析從Na到U的大部分元素。

　　3.靈敏度高：可以檢測(cè)到ppm級(jí)的元素含量。

　　4.非破壞性：對(duì)樣品無(wú)損傷，適合于珍貴文物、藝術(shù)品等樣品的分析。

　　X熒光光譜儀XRF 是一種重要的元素分析儀器，它基于X射線熒光的原理，通過(guò)一系列工作流程，可以快速、地分析樣品中的元素種類(lèi)和含量。

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