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寧波膜厚儀測厚儀
寧波膜厚儀測厚儀的產品特點:
，采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)，以及檢測非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
的技術參數：
型號 | leeb210 | leeb211 | |
測頭類型 | F1(不可拔插) | N1(不可拔插) | |
工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | |
測量范圍 | 0～1250μm | ||
低限分辨率 | 0.1μm | ||
示值誤差 | 一點校準 | ±(3%H+1) | |
二點校準 | ±[(1～3%)H+1] | ||
測試條件 | zui小曲率半徑 | 凸1.5mm | |
zui小面積直徑 | Φ7mm | ||
基本臨界厚度 | 0.5mm | ||
工作環境 | 溫度 | 0～40℃ | |
濕度 | 20～90% | ||
磁場 | 無強磁場環境 | ||
電源 | AAA型堿性電池兩節 | ||
外形尺寸 | 主機115*70*30mm | ||
重量 | 152g | 195g | |
幾款leeb200系列涂層測厚儀的區別：
leeb210：塑殼，分體，無接口，F1型探頭。
leeb211：塑殼，分體，無接口，N1型探頭。
leeb220：塑殼，分體，F1型探頭。
leeb221：塑殼，分體，N1型探頭。
leeb222：塑殼，分體，標配F1和N1探頭兩個探頭。
leeb230：金屬外殼，分體，F1型探頭。
leeb231：金屬外殼，分體，N1型探頭。
leeb232：金屬外殼，分體，標配F1或N1探頭。
leeb25O：塑殼，一體機，F1探頭。
leeb251：塑殼，一體機，N1探頭。
leeb252：塑殼，一體機，雙用探頭。
leeb242：塑殼，分體，帶打印機，標配F1或N1探頭。
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