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  離子遷移測試儀的工作原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 設定一段時間的測試（(1 ~ 1,000 小時)）, 并觀察線路是否有瞬間短路的現象, 采用獨立的電源供應及個別電流電壓量測系統, 并透過計算機分析及記錄電阻值變化狀況. 對個別頻道設定不同測試電壓, 采集測試品在不同的環境條件下產生劣化之數據。

  金合博源提供的離子遷移測試儀可有效監測離子遷移弓|致表面絕緣阻抗(SIR) 變化以及生產PCB內層陽極導電絲(CAF現象)。廣泛應用于成品壽命可靠度，材料和制程特性研究。