干涉法線脹系數測定儀
閱讀:778 發布時間:2018-11-23
干涉法線脹系數測定儀 線脹系數測定儀 型號:TC-YJ-GXP-Ⅱ
產品詳細內容:
1.實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用.
2.雙導軌、雙動鏡、平臺式
3.半導體激光器:波長625nm
4.溫控范圍:50-120℃
5.恒溫穩定度:±0.1℃
6.測溫范圍:-50-125℃, 三位半數顯,精度:±0.1℃