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晶體電光效應實驗儀電光晶體
晶體電光效應實驗儀是04綜合光學實驗儀的組成部分；也可以單獨做實驗。
實驗內容：
掌握電光調制的原理及方法。
觀察晶體的單晶干涉現象，以及由電光效應引起晶體折射率變化而產生的雙晶干涉現象。
極值法測量晶體半波電壓，計算電光系數。
加載調制電壓觀察倍頻現象并測量晶體半波電壓。
模擬激光通信（需增配選購件）
特點：
連續可調的0~800V高壓直流電源及0~100V交流調制信號，確保觀察到多次倍頻現象。
三數字表分別顯示直流高壓、調制信號電壓和接收到的光電信號電壓。
電光晶體：LiNbO3
光源：半導體激光器，功率可調
可明顯觀察到晶體由單軸晶體變化到雙軸晶體的過程，以及由加載電壓變化引起的雙晶干渉的變化趨勢。
模擬通信實驗可直觀的體現電光調制的原理。
JCP6透鏡望遠鏡顯微鏡綜合實驗儀透鏡望遠鏡顯微鏡綜合實驗儀是04綜合光學實驗儀的組成部分；也可以單獨做實驗。
通過對透鏡及其組合成的顯微鏡系統和望遠鏡系統進行成像實驗測量，可完成以下實驗：
通過二次成像法測量三種不同透鏡的焦距。
組合安裝伽利略和開普勒兩種結構的望遠鏡，熟悉望遠鏡的基本原理，計算視場放大率。
組合安裝內調焦望遠鏡，熟悉望遠鏡的內調焦原理，計算視場放大率。
組合安裝顯微鏡，熟悉顯微鏡的基本原理，計算視場放大率。
JC99CCD微機精密測徑實驗儀
用具有5000像元的線陣CCD器件，每像元僅7微米，空間分辨率遠高于面陣CCD，12位A/D量化，圖像細膩，分裂環的光強分布曲線與理論課內容吻合，并顯示出更多的細節，無需人工干預修正,定圓心等額外處理，實驗精度≤2%，優于面陣CCD方案。
JCP7光電池光電器件綜合實驗儀
光電池光電器件綜合實驗儀是04綜合光學實驗儀的組成部分；也可以單獨做實驗。
可以對光電池，光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進行測量，使學生對伏安特性，光強變化以及功率與電阻的關系等物理現象加深了解。
實驗內容：
光電池的開路電壓測量，功率與電阻的關系，填充因子測量,光強變化與開路電壓之間的關系以及光電池在黑暗狀態下作二極管用的伏安特性測量。
光電阻的伏安特性測量，光強變化對光電阻的電壓影響。
光電二極管的伏安特性測量。