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半導體粉末電阻率測試儀測量誤差測量范圍
半導體粉末電阻率測試儀是為了適應當前迅速發展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準設計的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm，直接采用數字顯示。儀器的可靠性和穩定性增強，更方便于用戶。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。半導體粉末電阻率測試儀適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有高加壓系統, 高度測量的測試臺和儀器組成。半導體粉末電阻率測試儀主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩。本儀器具有測量高，穩定性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校功能。本儀器采用國際通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電極與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯接系統所帶來的誤差， 克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態、粉態和納米樣品質量的一種工具。
主要參數：
測量范圍：
電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
電阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm
測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）
測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV
測量: ±（0.3% 讀數 + 2 字）
測量電流：0 - 100 mA 連續可調，
電流量程：10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網）納米粉末
試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
試樣高度：16mm ± 0.5mm
測量誤差：±0.1mm
取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
壓力量程：0 - 100 kg 可調
顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點
電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
備有粉末測試架和固態標準樣品測試臺供選用
BXTZ-08半導體導電型號鑒別儀
半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P"和 “N"的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結合綜合性的測量導電型號儀器，測量范圍廣硅材料電阻率從10-4~103Ω?cm，儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路，將材料上的微弱信號放大，并用 “P" “N"數碼直接顯示，儀器采用手持式四探然探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研部門需要。用作太陽能多晶材料分選時，采用整流法,對<0.1Ω-cm的材料具有聲光B警功能，廣泛應用于太陽能電池生產的原材料篩選環節,快速高效。
主要參數：
測量范圍：硅單晶材料電阻率10-4~103Ω?cm
溫差法：10-4~10Ω?cm
整流法：10~103Ω?cm，并對<0.1Ω?cm的材料具有聲光報警功能。
可測量材料：半導體硅棒和硅片，及硅碎顆粒。
可測半導體材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
顯示方式：P、N 燈顯示。
測試探頭：手持式 探針間距3mm探針Φ1mm 高速鋼
電源：220V 50HZ 20W
儀器尺寸：100×260×260