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NOVA 制冷光譜儀 | 構建 532nm 顯微熒光系統
閱讀：578 發布時間：2019-1-11
顯微光譜系統
背景
特種熒光光纖在 532nm 激光激發下會在 600nm 附近產生一個較為寬的熒光峰，增大 532nm 激光的光強，會發現熒光峰峰位和峰型的變化。
本案例運用了基于復享光譜儀以及定制的兩種顯微光路切換器所搭建的顯微熒光測量系統，對特種熒光光纖進行了 1μm 區域內的熒光激發以及熒光光譜測量。
實驗搭建
對測得光譜進行數據處理后發現，特種熒光光纖樣品，在功率較低的 532nm 激光功率下激發出一個 600nm 左右的寬熒光峰。當激光功率增大時，熒光峰的峰型變窄，且峰位具有一定的藍移。與預期測量結果一致。
顯微光譜系統，即微區光譜系統或顯微分光光度計，在顯微鏡的基礎之上增加了光譜分析的功能。能夠實現微米級樣品的反射光譜、透射光譜、熒光光譜、拉曼光譜等光譜分析。顯微熒光光譜測量系統是一套能夠實現微米級物體熒光光譜采集的儀器，它不僅保持了顯微鏡對微小區域實時成像的特點，更具備了采集該區域物體 350 ~ 2500nm 波段內光譜的能力。
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| 圖1，100X 物鏡下的定位光圈及激光斑 |
背景
特種熒光光纖在 532nm 激光激發下會在 600nm 附近產生一個較為寬的熒光峰，增大 532nm 激光的光強，會發現熒光峰峰位和峰型的變化。
本案例運用了基于復享光譜儀以及定制的兩種顯微光路切換器所搭建的顯微熒光測量系統，對特種熒光光纖進行了 1μm 區域內的熒光激發以及熒光光譜測量。
實驗搭建
基于光譜儀 PG2000-Pro （ 200 ~ 1100nm）、M 型光纖（FIB-M-600-NIR）；雙光路切換器（DPS）、C 口光路切換器（CMS）、532nm 激光器、光纖可調衰減器（FVA-LVF）等進行外部光路搭建實現顯微熒光光譜測量系統，分別在低激光功率和高激光功率激發兩個模式下對特種熒光光纖樣品微米量級測量區域進行定點熒光激發測量，獲得其熒光光譜。
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| 圖2，特種熒光光纖在不同功率激光激發下的顯微熒光光譜 |
對測得光譜進行數據處理后發現，特種熒光光纖樣品，在功率較低的 532nm 激光功率下激發出一個 600nm 左右的寬熒光峰。當激光功率增大時，熒光峰的峰型變窄，且峰位具有一定的藍移。與預期測量結果一致。
結論
通過顯微熒光光譜測量系統可以測量微米級區域內樣品的熒光光譜，并且可以實時觀測光譜采集的樣品區域輪廓及樣貌。
通過顯微熒光光譜測量系統可以測量微米級區域內樣品的熒光光譜，并且可以實時觀測光譜采集的樣品區域輪廓及樣貌。