半導體高低溫試驗箱適合安全監測，電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學、建材、航天、醫療…等制品檢測質量之用。  

  半導體高低溫試驗箱本機專門測試各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕的性能。本機可選擇中文或英文液晶顯示觸控式屏幕畫面，操作簡單，程序編輯容易。可顯示完整的系統操作狀況相關數據、執行及設定程序曲線。運轉中發生異常狀況，屏幕即刻自動顯示故障原因及提供排除故障方法。

1. GB11158 高溫試驗箱技術條件   
2. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件   
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件   
4. GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件   
5. GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法   
6. GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法   
7. GB/T2423.3-93 濕熱試驗箱試驗方法   
8. GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法   
9. GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法   
10. IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法   
11. IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法   
12. GJB150.3 高溫試驗   
13. GJB150.4 低溫試驗   
14. GJB150.9 濕熱試驗

箱體結構

箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方、新穎并采 用無反作用把手，操作簡便。

箱體內膽采用進口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑。采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠。

大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。設有獨立限溫報警系統，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發生意外。