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原子力顯微鏡(AFM)檢測
閱讀：287 發布時間：2023-8-24 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中。
AFM基本成像模式特點：
1、接觸式
特點：通常情況下，接觸模式都可以產生穩定的、分辨率高的圖像。但是這種模式不適用于研究生物大分子、低彈性模量樣品以及容易移動和變形的樣品。
2、非接觸式
特點：由于為非接觸狀態，對于研究柔軟或有彈性的樣品較佳，而且針尖或者樣品表面不會有鈍化效應，不過會有誤判現象。這種模式的操作相對較難，通常不適用于在液體中成像，在生物中的應用也很少。
3、輕敲式
適用于對生物大分子、聚合物等軟樣品進行成像研究
特點：對于一些與基底結合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結構的“搬運效應"。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。
測試優勢：
1) 低漂移和低噪音水平；
2) 配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；
3) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
4) 溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出未有的高分辨率。；
5) 全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度；
6) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
AFM應用技術舉例：
AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環境下工作，且不受樣品導電性質的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應用。主要用途：
1. 導體、半導體和絕緣體表面的高分辨成像
2. 生物樣品、有機膜的高分辨成像
3. 表面化學反應研究
4. 納米加工與操縱
5. 超高密度信息存儲
6. 分子間力和表面力研究
7 摩擦學及各種力學研究
8 在線檢測和質量控制