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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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更新時(shí)間：2024-08-28 20:44:11瀏覽次數(shù)：1073
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德國尼克斯QNix 1200/1500型測厚儀使用參數(shù)
基 體： Fe/NFe
探頭形式： 一體化
顯 示： LCD數(shù)字顯示
測量范圍： 0－5000μm
測量精度： 0－50μm： ≤±1μm 50－1000μm：≤±1.5%
1000－2000μm：≤±2% 2000－5000μm≤±3%
顯示精度： 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度： －10 － ＋60℃
溫度補(bǔ)償： 0－50℃
存 儲： 3900個(gè)測量值，999個(gè)數(shù)據(jù)組
數(shù)據(jù)傳輸： RS232打印、電腦
統(tǒng)計(jì)功能： 平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
zui小基體： 10mm×10mm
zui小曲率： 凸半徑：5mm 凹半徑：25mm
zui薄基體： Fe：0.2mm NFe：0.05mm
電 源： 9V堿性電池1節(jié)
重 量： 130g
尺 寸： 166×64×34mm
售后服務(wù)： 保修一年
德國尼克斯QNix 1200/1500型測厚儀使用注意事項(xiàng)
影響測量值的因素與解決方法
使用尼克斯測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的尼克斯測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測量。(注：的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的*功能可達(dá)3～10%的精度)
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。
3.基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度，使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應(yīng)的修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5.探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?/p>
6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁，根據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)試樣。
