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        The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker 的電容傳感技術，繼承了市場的第一批商業化原位 SEM 納米力學平臺的優良功能。該系統可實現包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態測試和力學性能成像等功能。

      Hysitron PI 85E掃描電鏡用納米壓痕儀擴展了原位力學測試的范圍，彌補了納米級和微米級表征之間的差距。這臺深度傳感納米力學測試系統專門設計，利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM、PFIB）的先進成像能力，同時進行定量納米力學測試。設備擴展的加載范圍使研究人員能夠準確測試尺寸較大或堅硬的結構。這些結構需要更大的載荷才能引起失效或斷裂。PI 85E納米壓痕儀提供大量材料（從金屬和合金到陶瓷、復合材料和半導體材料）的壓痕、壓縮、拉伸和疲勞測試。PI85E緊湊、低輪廓的架構使其非常適合小腔室SEM、拉曼和光學顯微鏡、光束線等。

Hysitron IntraSpect 360 采用壓電稱重傳感器，結合三板電容式傳感器技術。這種安排可顯著增加可用位移范圍，同時保持超低噪聲底。這種設計產生的熱量非常小，在接觸樣品時可提供的穩定性。在計算機斷層掃描研究 （μCT） 的成像過程中，這一點非常重要，因為數據采集時間可能很長。測試長達 168 小時，與布魯克的參考頻率校正技術相結合，已可靠地執行。該系統還包括布魯克的"執行"高級控制模塊和TriboScan軟件，用于精確、反饋控制的納米機械測試和自動數據分析。