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Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀
Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀完美融合了高級表征、可定制選項和易用性，可以提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。
它的操作和分析軟件系統提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可以訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀滿足計量要求，具有很好的Z軸分辨率和準確性，并在更小的占地面積內提供了布魯克白光干涉儀（WLl）落地式型號所具備的業界認可的優點。它對反射率從0.05%到100 %的各種表面都非常易于測量。
Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀擁有三款型號，分別是GT100、GT200、GT500，它們的技術參數如下：
| 型號 | GT100 | GT200 | GT500 |
| 圖片 |  |  |  |
| 樣品臺區別 | 手動樣品臺
| 自動樣品臺
| 高級自動化樣品臺
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| 技術參數 | 掃描量程：≤10mm 垂直分辨率：＜0.01nm 水平分辨率：0.38μm min（Sparrow criterion），0.13μm（with AcuityXR） 臺階高度準確性：＜0.75% 臺階高度重復性：＜0.1% 1 sigma repeatability 掃描速度：37μm/sec(with standard camera) 樣品傾角：≤40°（shiny surfaces），≤87°（rough surfaces） 樣品高度：≤100mm（4 in.） | ||
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