涂層測厚儀CMI243華東代理

產品特點：涂層測厚儀，可測量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧氏體不銹鋼上的所有絕緣層，陽極氧化膜、油漆、涂料等。

涂層測厚儀CMI243使用方法如下：

1，基體金屬特性：對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面  粗糙  度  ，應當與試件基體金屬的磁性和表面  粗糙度  相似。
2，基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，進行校準后，可以測量。
3，邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
4，曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。
5，讀數次數：通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
6，表面清潔度：測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
7，磁場：周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作  
8，測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，在測量時應該與工件保持垂直CMI243測量了導電涂層在導電層上的涂層厚度。

涂層測厚儀CMI243 允許使用良好的ed電流技術控制電鍍涂層工藝。它為導電層的導電涂料提供無損涂層厚度測量。
該系統是專門設計來滿足平臺、操作人員和質量專業人員的需要的。標準的包裝包括一個控制裝置，一個ecp-m渦流探針和一組鋼標準的鋼標準可追溯的校準標準。ecp-m探針是專門為金屬材料的金屬涂層而設計的，如鋼的鋅。

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