當前位置：篤摯儀器（上海）有限公司>>技術文章>>泰勒DUO分體式粗糙度儀信息
技術參數
測量范圍：粗糙度參數（Ra）up to 40μm，輪廓高度參數（Rz、Rv、Rp、Rt）up to 199μm。
測量重復性：2% of value+noise。
測量精度：5% of reading+0.1μm。
噪聲：0.1μm。
量程：200μm。
行程：5mm。
取樣長度：0.8mm+/-15%。
分辨率：0.01μm。
測量速度：2mm/sec。
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