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產品簡介
產品介紹
DualScope FMP40測厚儀技術指標
This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
DualScope FMP40測厚儀技術指標， 配置ED10兩用探頭，在同時測量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環氧樹酯等厚度時不用更換探頭、方便快捷。
該款儀器已經廣泛應用于汽車、航空、電鍍和機械加工等等領域
如配置ED10兩用探頭，在同時測量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環氧樹酯等厚度時不用更換
探頭、方便快捷。
該儀器也可以配置磁感應和渦流單用探頭以適應不同的測量之需求
配置ETA3.3H探頭，能達到的技術指標：
測量范圍： 0 ～ 1 200μｍ （45 mils）
測量精度： 0～50 μｍ， ± 0.25 μｍ；
50～8000μｍ， ± 0.5 ％；
800～1200μｍ， < 2.5%
配置EGA1.3探頭，能達到的技術指標：
測量范圍： 0 ～ 1 500μｍ （45 mils）
測量精度： 0～50 μｍ， ± 0.25 μｍ；
50～1000μｍ， ± 0.5 ％；
1000～1500μｍ， < 2.5%
配置ED10 兩用探頭配合，可具備磁感應和渦流兩種測量功能。
探頭 ED10 設置為兩用時的測量參數：
磁感應：測量范圍： 0～800 μΜ（0～32 mils）
渦 流：測量范圍： 0～800 μΜ（0～32 mils）
探頭 ED10 設置為單用時的測量參數：
磁感應：測量范圍： 0～1500μΜ（0～60 mils）
測量精度： 0～50 μΜ： 0.2 μΜ
50～1500μΜ： 1 ％
渦 流：測量范圍： 0～1200μΜ（0～48 mils）
測量精度： 0～100 μΜ： 0.5 μΜ
100～1200μΜ： 0.5 ％
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