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篤摯儀器（上海）有限公司
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菲希爾XULM240FISCHER代理核心測量性能菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm微區測量能力微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率多層與合金分析支持單層、雙層（含合金層）、三
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菲希爾X射線GOLDSCOPESD特點緊湊耐用設計采用臺式設計，結構緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN61010、DINISO3497和ASTMB568等國際標準。X射線熒光技術優化硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化，采用X射線熒光（XRF）技術，無需樣品制備，實現無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異SD510/SD515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。SD520/SD550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤
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菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDL220的典型應用包括以下領域：測量大規模生產的電鍍部件：如汽車零部件、電子接插件等，適用于質量控制場景。測量薄鍍層：例如裝飾性鍍鉻層（如首飾、衛浴配件），可精確檢測亞微米級厚度。功能性鍍層分析：在電子工業中測量金、鎳、錫等鍍層厚度，確保導電性和耐腐蝕性（如半導體封裝、PCB板鍍層）。全自動測量：通過馬達驅動的X-Y平臺和可編程Z軸，實現印刷線路板等復雜樣品的自動化批量檢測。電鍍溶液成分分析：直接檢測溶液中金屬離子濃度，優化電鍍工藝參數
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菲希爾XDL230主要技術指標：（標★為重要參數）1、FISCHER代理測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度2、測量方式：無損檢測，可自動聚焦3、元素測量范圍:Cl（17）--U（92），zui多可測量24種元素23層鍍層。★4、手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm5、電動Z軸，手動/自動聚焦，可移動范圍≥140mm★6、FISCHERXDL230采用DCM（測量距離補償法）可遠距離對焦測量腔體樣品，可達80mm深度★7、滿足可變高壓30KV,40KV,
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泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO測量原理金剛石測針與驅動裝置采用耐磨的金剛石測針部件和精密機動驅動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時行進距離的準確性。壓電傳感與信號轉換當測針劃過表面波峰和波谷時，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機械運動轉換為電信號。數字化處理與參數計算電信號經數字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法（如ISO4287）即時計算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數。泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO其他核心功能與技術特點藍牙無線通信驅動裝置與
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表面粗糙度定義每個組件表面都有某種形式的紋理，這些紋理各不相同根據它的結構和制造方式。這些表面可以分為三大類：表面粗糙度、波紋度和形狀。為了預測組件在使用過程中或控制制造過程中的行為過程中，有必要量化這些表面特性。這是通過使用表面紋理參數來完成的。表面紋理參數可以分為三種基本類型：振幅、間距和混合。振幅參數。是垂直的度量表面偏差的特征。間距參數。是水平特性的度量表面偏差。混合參數。是spacing和振幅參數。平均線。均線是名義形式的最小二乘線擬合通過主截面，其中截面的面積高于和低于這條線相等并保
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一、菲希爾X射線產品簡介FISCHERSCOPEX-RAYXUL220是一款性能、設計緊湊且應用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。其核心優勢在于可對細小工件進行無損測量，精準檢測鍍層厚度并開展材料分析，尤其適用于質量管控、來料檢驗及生產過程控制等關鍵環節。在技術性能方面，儀器搭載的比例接收器能實現高計數率，為高精度測量提供有力支撐。與所有FISCHERSCOPEX-RAY系列儀器一樣，XUL220具備出色的準確性與長期穩定性，大幅降低儀器校準所需的時間與精力成本。此外，憑借FISCHER基本
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FISCHERSCOPE MMS PC2菲希爾X射線測厚儀信息
一、菲希爾FISCHERSCOPEMMSPC2產品特性功能強大且耐用：作為堅固耐用的臺式儀器，兼具多功能測量系統屬性，支持測量數據的保存與處理。靈活應用設計：采用模塊化結構，搭配可交換式探頭，滿足多樣化測量需求。多種技術集成：整合振幅與相位敏感電渦流、磁感應、β射線等多種物理測量技術，適用性強。完善分析功能：具備全面的分析與統計功能，助力深度數據處理。操作便捷直觀：可通過大型內置觸摸屏，或使用鍵盤和鼠標進行便捷操作。適配自動化生產：配備多種接口，能夠輕松集成到自動化生產過程中。二、菲希爾FISC
