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篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國(guó)馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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牛津CMI 760印刷電路板銅厚測(cè)厚儀
CMI 760系列專(zhuān)為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760具有良好的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI760：高靈活性的銅厚測(cè)量?jī)x、線路板孔銅&面銅測(cè)厚儀、臺(tái)式測(cè)厚儀，采用微電阻和電渦流方式測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴(kuò)展性和良好的統(tǒng)計(jì)功能，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。
 | CMI 760配置包括： CMI700主機(jī)及證書(shū) SRP-4面銅探頭 SRP-4探頭替換用探針（1個(gè)） NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用SRP標(biāo)準(zhǔn)片及證書(shū) ETP孔銅探頭 NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用ETP標(biāo)準(zhǔn)片及證書(shū) 選配配件： SRG軟件 |
ETP 探頭：ETP探頭采用電渦流測(cè)試技術(shù)。電渦流測(cè)試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。*設(shè)計(jì)的探頭使測(cè)量準(zhǔn)確、不受板內(nèi)層影響，即使是雙層板或多層板，甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下，同樣能夠良好工作。另外，CMI760儀器配ETP 探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板，也能實(shí)現(xiàn)對(duì)穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測(cè)量。
TRP 探頭：配備TRP探頭，CMI760可測(cè)試穿孔的質(zhì)量，包括孔內(nèi)鍍銅的裂縫、空洞和不均勻性。TRP的36-點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)是牛津儀器的，對(duì)穿孔鍍銅品質(zhì)進(jìn)行量化，而且只有牛津儀器擁有這項(xiàng)產(chǎn)品。錐體形的探針確保了三個(gè)接觸點(diǎn)的可重復(fù)性，以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性和再現(xiàn)性。
