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產(chǎn)品簡介
日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細信息該設(shè)備具有新研制的電子光學系統(tǒng)和自動化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實時圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。
詳細介紹
日立二手電鏡SEM+EDX
1.樣品要求：粉體需5mg左右；塊體長寬高需小于10mm（超出該尺寸請?zhí)崆奥?lián)系技術(shù)顧問確認，鑲嵌樣及多孔材料抽真空時間較長，尺寸盡量小一些，非特殊原因請務必按要求制樣，以免耽誤測試效果及周期）；液態(tài)或粘稠樣品務必烘干寄樣，如電子束照射下流動變形，則無法拍攝；
2. 此項目需提前聯(lián)系技術(shù)顧問預約測試時間！下單后技術(shù)顧問根據(jù)樣品要求和數(shù)量預估測試時長，從樣品進樣開始計時，最終以實際測試為準，多退少補；現(xiàn)場測試請聯(lián)系技術(shù)顧問確認現(xiàn)場地址及時間，建議提20min到現(xiàn)場制樣及噴金（需要特殊制樣方式請?zhí)崆罢f明），遠程視頻測試默認收到樣品后確認測試時間.
3. 特別注意：無法測試強磁材料；若樣品有磁性（含鐵/鈷/錳/鎳元素），請?zhí)崆罢f明；常規(guī)倍數(shù)可達5w-10w，最大20萬倍，但實際效果和樣品性質(zhì)有關(guān)，若樣品有磁性或?qū)щ娦圆?，高倍下不能保證好的效果，敬請理解！
4. 此項目為計時收費，請在樣品數(shù)量處填1；
5. 如有其他疑問，請聯(lián)系前期對接的技術(shù)顧問；
結(jié)果展示
日立二手電鏡SEM+EDX表面形貌
能譜EDS
點掃
mapping
主要技術(shù)指標· 鎢燈絲電子槍；· 加速電壓：0.2~30 kV，連續(xù)可調(diào)；· 放大倍數(shù)：6×~1200,000×；· 30 kV高壓下，分辨率：3.5 nm； 3 kV電壓下，分辨率：15 nm； 環(huán)境掃描條件下，分辨率：3.5 nm； 能譜儀分辨率：133 eV主要功能及應用范圍· 納米材料、復合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導體與非導體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。