 TEBX-F變壓器繞組變形測試儀的主要技術特色： - ● 不對變壓器進行吊罩、拆裝的情況下就可以測試。
- ● 使用目前zui為流行的掃頻法進行測量
- ● 本儀器可以對6Kv以上的變壓器進行測量
- ● 采用分體式結構，測試主機與主控計算機之間采用USB連接，即插即用
- 現場接線簡單、使用方便
- 測量動態范圍寬：－100dB～20dB
- 分析軟件功能強大，軟件、硬件指標滿足國標DL/T911-2004
TEBX-F繞組變形測試儀用于測試6KV及以上電壓等級電力變壓器及其它特殊用途的變壓器，電力變壓器在運行或者運輸過程中不可避免地要遭受各種故障短路電流的沖擊或者物理撞擊，在短路電流產生的強大電動力作用下，變壓器繞組可能失去穩定性，導致局部扭曲、鼓包或移位等*變形現象，這樣將嚴重影響變壓器的安全運行。按國家電力行業標準DL/T911－2004采用頻率響應分析法測量變壓器的繞組變形，是通過檢測變壓器各個繞組的幅頻響應特性，并對檢測結果進行縱向或橫向比較，根據幅頻響應特性的變化程度，判斷變壓器繞組可能發生的變形情況。 由測量部分及分析軟件部分組成，測量部分是由信號生成及信號測量組成的黑匣子，分析部分由筆記本電腦完成，測量部分通過USB與筆記本電腦連接，也可以通過有線或者無線以太網進行連接。 一、TEBX-F測試儀的主要技術指標有： - 測試主機與PC接口：USB接口。
- 信號源：儀器自帶一個通道信號輸出作為掃頻的激勵信號；信號輸出為標準正弦波，信號輸出幅度可以軟件調節，zui大幅度±10V，信號輸出阻抗為50Ω。
- 兩個采集通道，一個采集激勵信號，一個采集響應信號，用于計算傳遞函數
- 激勵通道測量為固定量程：±10V；響應通道有多檔量程，在測量過程中自動調節量程，zui大輸入信號為±25V
- 采集通道量化精度：12位
- 采集通道zui大靜態誤差：0.5%
- 每通道zui大存儲容量：64K樣點
- 每通道zui高采樣率：20Msps
- 采集通道輸入阻抗：1MΩ
- 掃頻測量范圍：1K－2MHz
- 掃描方式：采用線形分布的掃頻測量方式
- 掃描頻率精度：信號源輸出正弦信號的頻率精度不大于0.01%
- 掃頻測量頻點：1K－2MHz，測量點數1000點
- 采用Vittal原裝機箱
- 符合國家電力行業標準：DL/T911-2004
二、檢測原理 在較高頻率的電壓作用下，變壓器的每個繞組均可視為一個由線性電阻、電感（互感）、電容等分布參數構成的無源線性雙口網絡，其內部特性可通過傳遞函數H(jω)描述，如圖1所示。若繞組發生變形，繞組內部的分布電感、電容等參數必然改變，導致其等效網絡傳遞函數H(jω)的零點和極點發生變化，使網絡的頻率響應特性發生變化。 用頻率響應分析法檢測變壓器繞組變形，是通過檢測變壓器各個繞組的幅頻響應特性，并對檢測結果進行縱向或橫向比較，根據幅頻響應特性的差異，判斷變壓器可能發生的繞組變形。 變壓器繞組的幅頻響應特性采用圖1所示的頻率掃描方式獲得。連續改變外施正弦波激勵源VS的頻率f(角頻率ω=2πf)，測量在不同頻率下的響應端電壓V2和激勵端電壓V1的信號幅值之比，獲得激勵端和響應端情況下繞組的幅頻響應曲線。圖中：L、K及C分別代表繞組單位長度的分布電感、分布電容及對地分布電容，V1、V2分別為等效網絡的激勵端電壓和響應端電壓，VS為正弦波激勵信號源電壓，RS為信號源輸出阻抗，R為匹配電阻。 圖1 頻率響應分析法的基本檢測回路 測得的幅頻響應曲線常用對數形式表示，即對電壓幅值之比進行如下處理： H（f）=20Log[V2(f )/V1(f )] 式中：H（f）為頻率f時傳遞函數的模│H(jω)│；V2(f )和V1(f )為頻率為 f 時響應端和激勵端電壓的峰值或有效值│V2(jω)│和│V1(jω)│。 三、儀器使用方便、現場接線簡單。 儀器主機采用Vittal原裝機箱，美觀耐用，筆記本電腦采用IBM高級筆記本，整套儀器提供所有測試配件及高級鋁合金外包裝箱。 四、TEBX-F變壓器繞組變形測試的軟件特色 - 軟件采用windows平臺，兼容win9X/windows2000/winXP.
- 可以同時加載6條曲線，各條曲線相關參數自動計算，自動診斷繞組的變形情況，給出診斷的參考結論。
- 軟件管理功能強大，充分考慮現場使用的需要，自動保存環境條件參數，以便作變壓器繞組變形診斷時提供依據。測量數據自動存盤、具有彩色打印功能，方便用戶出測試報告。
- 軟件人性化特點明顯，測量的各種條件多為選擇項，不用在現場作很多的輸入，使用人員更加的方便。
- 軟件智能化程度高，在輸入、輸出信號連接好之后，只需要按一個鍵就可以完成所有的測量工作。
- 軟件界面如圖，界面簡潔直觀。
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