儀器介紹

 TEJDCS2851D介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

TEJDCS2851D介電常數及介質損耗測試儀是一種基于串聯諧振原理工作的高頻阻抗測量儀器,對電感器,電容器,絕緣材料等進行高頻有效電感,Q值,電容值和Σ,tgδ測量

1 特點：
* 本公司創新的自動Q值讀取技術，使測Q精度和速度大大提高。　
* 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。　
* 特制LCD屏菜單式顯示多參數，Q值，測試頻率，調諧狀態等。　
* Q值量程自動/手動量程控制。　
* 數字化Q值予置，能提高批量測試的可靠性和速度。　
* VCO調節測試頻率，其平滑的連續頻率變化，能便捷的進行Δf測量Q值。

2 主要技術性能：　
2.1 工作頻率范圍：
    50kHz～50MHz,四位有效數顯，分六個波段。　

2.2 Q值測量范圍：
    10～1000，分10～100，30～300，100～1000三檔。　

2.3 Q值固有誤差：
    ±5%±3%滿刻度值。　

2.4 有效電感測量范圍：
    0.1μH～100mH。　

2.5 電感測量誤差：
    ≤5%±0.02μH。　

2.6 調諧電容特性　
2.6.1 可調電容范圍：
      40pf~500pf。　
2.6.2 精確度：
     ±1%或者1PF。　
2.6.3 微調電容:
     ±3pf可調，±0.2pf分辨率。　
2.6.4 殘余電感值：
      約20nH。　

2.7 Q預置功能：
    預置范圍：Q：10~1000均可。被測件達到預置值后有“GO"顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO"。　

2.8 外形尺寸/重量：
    415×180×170（mm）,7kg。