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南京斯沃電氣有限公司
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- 聯(lián)系人：
- 陶 工
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- 手機(jī)：
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- 地址：
- 南京市棲霞區(qū)邁皋橋創(chuàng)業(yè)園科技研發(fā)基地
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STD-660h獨到之處
@維修保養(yǎng)STD-660h數(shù)字式發(fā)電機(jī)保護(hù)測控裝置針對不同的客戶需求而設(shè)計。兼有保護(hù)、測控、通訊功能，滿足10KV或35kv變電站綜合自動化的需求；斯沃盛工為您提供技術(shù)支持!
》裝置可集中組屏安裝或直接在開關(guān)柜上分散安裝，配合通訊管理單元和監(jiān)控系統(tǒng)，還可以完整廠站自動化系統(tǒng)。
》裝置采用多CPU結(jié)構(gòu)，增加了可靠性，充分保證產(chǎn)品的穩(wěn)定性和運(yùn)算速度；
》*的32位高速處理器，強(qiáng)大的運(yùn)算判斷處理能力；
》體積小、重量輕，可集中組屏，也可分散安裝在開關(guān)柜上。
STD-660h使用環(huán)境
工作溫度：-25℃～70℃
存儲溫度：-40～+85℃
濕度：5～95%RH
工作條件：能承受嚴(yán)酷等級為Ⅰ級的振動響應(yīng)、沖擊響應(yīng)；
運(yùn)輸條件：能承受嚴(yán)酷等級為Ⅰ級的振動耐久、沖擊耐久、碰撞。
電氣環(huán)境:
a).絕緣電阻
在正常試驗大氣條件下,裝置的帶電電路部分和非帶電金屬及外殼之間,以及電氣無聯(lián)系的各電路之間,用開路電壓500V的兆歐表測量絕緣電阻值；正常試驗大氣條件下,各回路絕緣電阻應(yīng)不小于100 MΩ。
b).介質(zhì)強(qiáng)度
在正常試驗大氣條件下,裝置能承受頻率為50Hz, 試驗電壓2000V歷時1min的工頻耐壓試驗而無擊穿閃絡(luò)及元器件損壞現(xiàn)象。
c).沖擊電壓
在正常試驗大氣條件下,裝置的直流輸入回路、交流輸入回路、信號輸出觸點諸回路對地以及回路之間，能承受(1.2/50)μs的標(biāo)準(zhǔn)雷電波的短時沖擊電壓試驗，開路試驗電壓5kV，無絕緣損壞。
d).脈沖群干擾
裝置能承受GB/T( idt IEC60255-22-1:1988)規(guī)定的1MHz和100kHz脈沖群干擾試驗。試驗嚴(yán)酷等級為Ⅲ級, 試驗電壓共模2.5Kv, 差模1kV。
e).輻射電磁場干擾
裝置能承受GB/T14598.9-1995( idt IEC60255-22-3:1989)中規(guī)定的嚴(yán)酷等級為Ⅲ級的輻射電磁場干擾試驗,即試驗場強(qiáng)為10V/m。
f).靜電放電干擾
裝置能承受GB/T( idt IEC60255-22-2:1996)中規(guī)定的嚴(yán)酷等級為IV級,即接觸放電試驗電壓為8kV、允許偏差±5%,空氣放電試驗電壓為15kV、允許偏差±5%的靜電放電干擾試驗。
g).快速瞬變干擾
裝置能按GB/T( idt IEC60255-22-4:1992)中規(guī)定的嚴(yán)酷等級為IV級快速瞬變干擾試驗,即試驗電壓為4kV,允許偏差±10%。
STD-660h功能優(yōu)勢
數(shù)字式發(fā)電機(jī)保護(hù)測控裝置微機(jī)保護(hù)測控裝置是用高性能32位單片機(jī)，根據(jù)“一個設(shè)備（一個間隔）一個裝置"的原則開發(fā)出來的保護(hù)測控一體化裝置。微機(jī)保護(hù)裝置廣泛吸取現(xiàn)有技術(shù)和經(jīng)驗，在技術(shù)上改革創(chuàng)新。其產(chǎn)品（系列）涵蓋了10KV及以下電壓等級的輸配電線路及主設(shè)備的保護(hù)控制系統(tǒng)，并提供了各個電壓等級的變電站自動化的完整解決方案。
數(shù)字式發(fā)電機(jī)保護(hù)測控裝置型號參考
ZHD-8226、SNP-1313、TOP9720B-50H、GEC3010、TOP9720C-50H、HR9011、GKP100、
SN-K8041、ZHD-8226、EMA500、DMR100、TOP9720M-51H、DEP-535N、GDB-530、
CSP1000S、DMP-3315、MICOMP44X、RD700、Sepam80、ACX6300C72-RZ、ISA-385G、
HDPJ-820、STD-660、RKP601B-B2、GDB-330
STD-660h性能達(dá)標(biāo)
》IEC255-6 《高頻干擾電壓測試》
GB /T15145-94 《微機(jī)線路保護(hù)裝置通用技術(shù)條件》
》DL5002-91 《地區(qū)電網(wǎng)電力調(diào)度自動化設(shè)計技術(shù)規(guī)程》
GB /T17626-1998《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》
