第二十六屆高校分析測試中心研究會年會暨第二屆中國分析測試協會高校分析測試分會年會于2022年8月19日-21日在江蘇鎮江圓滿舉辦，會議由江蘇大學分析測試中心、江蘇大學化學化工學院、大連科學邦信息技術有限公司承辦，江蘇省分析測試協會協辦。會議分為5個分論壇，邀請超300位專家學者，采用線上線下同步直播的方式，圍繞高校分析測試平臺發展與標準化體系建設的機遇和挑戰，前沿科學研究與技術創新發展等相關熱點問題，組織專題報告、開展研討交流。

會議首先由中國分析測試協會高校分析測試分會主任委員/清華大學教授李景虹院士，江蘇大學校長顏曉紅致開幕辭，顏校長對參會嘉賓的蒞臨表示誠摯歡迎，并預祝本次大會圓滿成功。隨后，會議進入到大會報告環節，李景虹院士、中國分析測試協會理事長/中國環境化學與生態毒理學國家重點實驗室江桂斌院士、中國鋼研科技集團有限公司王海舟院士、國家市場監督管理總局認可與檢驗檢測監管司一級巡視員喬東、教育部高等學校科學研究發展中心處長曾艷、江蘇大學分析測試中心主任李艷肖分別帶來精彩的報告。

江蘇大學校長 顏曉紅致詞

《高校分析測試分會工作報告》

中國分析測試協會高校分析測試分會主任委員/清華大學教授 李景虹院士

《新污染物治理——從基礎研究到國家戰略》

中國分析測試協會理事長/中國環境化學與生態毒理學國家重點實驗室江桂斌院士

《標準化——高質量發展的重要引擎》

中國鋼研科技集團有限公司 王海舟院士

島津企業管理（中國）有限公司（以下簡稱“島津”）積極參與并支持了本次大會，在首日的分會場報告中，分析計測市場部XPS首席技術專家龔沿東先生為與會代表帶來了題為《表面分析- X射線光電子能譜(XPS)-從超薄到超厚》的報告，介紹了XPS分析的基本原理及島津/Kratos的光電子能譜儀的特色硬件，給出了從表面的超薄層(~1nm)到超厚層(~20微米)的元素及其化學狀態的深度分布的分析方法。利用角分辨XPS分析技術并配合最大熵表面深度信息重構軟件，可以將XPS的信息深度從常規的法向檢測10nm減小至1nm左右；使用島津/Kratos的單色高能Ag陽極，可以將XPS的信息深度從普通常規單色Al陽極的10nm延展到20nm左右；結合島津/Kratos最高能量20keV的Ar團簇離子槍，可以實現超厚膜層結構的高速深度剖析。與會專家對島津的報告給予了高度評價。

《表面分析- X射線光電子能譜(XPS)-從超薄到超厚》

島津企業管理（中國）有限公司 龔沿東先生發表

會議期間，許多參會專家蒞臨島津展位，翻閱和下載電子應用資料，同時與島津工作人員就合作項目、技術難點等進行了溝通交流。

島津企業管理（中國）有限公司 展臺

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