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LEITZ探針測試方面
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質(zhì)：W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
LEITZ探針分類
探針根據(jù)電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產(chǎn)品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針 （ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目應用較多的一種探針．
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．
3.微型探針（MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開關探針（Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流．
5.高頻探針（Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試．
7.高電流探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．zui大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長．
10.汽車線束測試測試探針
專業(yè)用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用．
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