您好, 歡迎來到化工儀器網
Agilent 推出新一代串聯四極桿 ICP-MS 系統
安捷倫科技公司推出新一代串聯四極桿 ICP-MS 系統
新系統的靈敏度提高了兩倍，并新增更多單納米顆粒測定功能，還能對低水平硫/硅實現更準確的測定
2016 年 6 月 23 日北京 — 安捷倫科技（中國）有限公司今天在北京安捷倫原子光譜研討會上正式推出 Agilent 8900 串聯四極桿 ICP-MS系統。這款電感耦合等離子體質譜系統能提供可控的反應化學過程，可為之前難以分析的元素（例如硫、硅和磷）提供極低檢測限。該系統還配備有快速檢測器，可為單納米顆粒檢測應用樹立全新*。
Agilent 8900 ICP-Q 不僅具有媲美于安捷倫市場的四極桿 ICP-MS 系統的氦氣模式性能和分析效率，還進一步增強了原有用于在反應模式中實現受控和一致的干擾去除能力的 MS/MS 模式性能，使這款系統成為世界上功能較強大、zui靈活的多元素分析儀。
2012 年，安捷倫發布了世界上具有 MS/MS 功能的串聯四極桿 ICP-MS (ICP-Q)— Agilent 8800，該系統可提供其他 ICP-MS 系統無法達到的受控和全面干擾去除能力。這款突破性儀器為數百個實驗室中的分析人員帶來了全新的分析可能性，并且在半導體、材料和學術研究領域得到了良好應用。 安捷倫目前是市場上串聯四極桿 ICP-MS 技術的*供應商。
新一代 8900 ICP-Q 提供多種配置，可覆蓋從常規分析到研究和高性能材料分析等多種應用。 通過配備更為強大的單納米顆粒測定功能，這款新系統的應用范圍除半導體和學術研究外，還進一步擴展到食品、制藥和生物制藥、化妝品、電子元件以及涂層材料領域。
新型 8900 ICP-Q 不僅具有更強大的單納米顆粒測定功能，的干擾去除能力，還提供能達到極低檢測限的出色性能。此外，8900 ICP-MS/MS 可為硫和硅提供更低的檢測限，幫助科學家更準確地分析半導體晶片、高純材料和生命科學樣品中的污染物。