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TSI 3082型靜電分級器簡介
高度可靠且用途廣泛
自1976年以來，TSI® 靜電分級器一直在幫助科學家發生和測量亞微米粒子。這些儀器被廣泛用于各種研究，并因其高度可靠和極其廣泛的用途而贏得了當之無愧的聲譽。我們新型的靜電分級器— 3082型—不但延續了這一傳統，而且具有擴展的功能和易于使用的界面。當前的設計提供了免工具安裝和自動檢測可配置組件的功能。分級器控制平臺包括觸屏顯示器和圖形用戶界面控制，可進行粒徑分布測量，并具有數據存儲的功能，大大擴展了您研究的可能性！
TSI® 的靜電分級器篩分出高度單分散的亞微米氣溶膠，直徑范圍為 1-1,000nm。靜電分級器用作單分散氣溶膠發生系統或亞微米粒子分級系統的組成部分。
應用
3082 型靜電分級器是氣溶膠測量的“一級標準"儀器。這意味著它的性能基于基本的物理原理，且結果是高度可重復的。
3082 型靜電分級器可用于氣溶膠發生和氣溶膠粒徑分布測量。美國國家標準與技術研究院（NIST）使用TSI® 長DMA 差分靜電遷移分析儀來測量0.1微米標準參考材料的粒徑。
當用作氣溶膠發生器以產生高度單分散粒子時：
? 氣溶膠研究，包括粒子傳輸、擴散、凝聚、 核化和凝結的研究
? 粒子電荷和電遷移率研究
? 濾材的過濾效率測試
? 光學粒子計數器等粒子儀器的校準—通過去除殘余 粒子和多重態來增強聚苯乙烯膠乳球（PSL）或其他 氣溶膠的單分散性
當在 TSI® SMPS™ 粒徑譜儀中用于亞微米粒子的高分辨率粒徑測量時：
? 氣溶膠研究，包括核化和凝結研究
? 大氣監測和氣候研究
? 納米技術研究與材料合成
? 燃燒和發動機排放研究
? 火焰、粉末、噴霧或其它來源產生的氣溶膠的表征
當單分散粒子生成與粒徑分布測量串聯使用時：
測量由于凝聚、蒸發、凝結、加濕和化學反應引起的粒子粒徑的變大和變小。
當與TSI® 氣溶膠靜電計3068B 型一起使用時：
凝聚核粒子計數器（ISO 27891）和其它氣溶膠儀器的初級粒徑和濃度校準。
雙重用途
氣溶膠發生和氣溶膠粒徑測量
從廣義上講，靜電分級器有兩類應用：單分散氣溶膠發生和亞微米氣溶膠粒徑分布測量。3082 型靜電分級器作為可選組件的操作平臺，選擇何種組件取決于客戶的應用。
3082型靜電分級器的第一個用途是作為亞微米粒子的單分散氣溶膠發生器。為了將分級器用作單分散氣溶膠發生器，用戶需安裝選定的差分靜電遷移分析儀（DMA）、氣溶膠中和器和進樣口撞擊式切割器；所有這些組件都由分級器控制和/或監測。
3082 型分級器的第二個也是最常見的用途是在掃描電遷移粒徑譜儀（SMPS™）系統中。SMPS™ 系統測量氣溶膠的粒徑分布。在SMPS™系統中，從分級器出來的單分散氣溶膠通過凝聚核粒子計數器（CPC），測量粒子數量濃度。通過快速掃描選定的粒徑范圍（因配置而異），SMPS 可精確測量氣溶膠的粒徑分布。經驗證，TSI® SMPS 可準確測量NIST 可追溯粒子（Vasiliou，2004）。
3938 系列SMPS 能夠測量小至1 nm，大至1,000 nm 的粒子，具體取決于所使用的可配置組件。已安裝的組件可被自動檢測識別。對于大多數SMPS 配置，可以直接從3082 型分級器的前屏幕或通過軟件看到掃描結果。