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在工業過程控制分析中,分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關重要的。SPECTRO iQ II 在這一領域已建立了相應標準。全新的SPECTRO iQ II 在此基礎上進一步改進了技術,提高了操作簡便性和可靠性。
在許多情況下,SPECTRO iQ II 在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美。以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務,現在通過SPECTRO *的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。
SPECTRO iQ II 它采用低能量X射線管和開發的C-Force 偏振光學系統,確保了對樣品中元素的*激發。使用Pd準直器,SPECTRO iQ II 具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時間內,即可測定油中的超低硫含量。因此,開發出的SPECTRO iQ II 具有的分析輕元素的能力。
SPECTRO iQ II 軟件的特點:簡單明了。圖文式用戶操作界面,使日常操作所相關的重要功能清晰明確。觸屏操作,更為簡單直觀。
X射線熒光光譜法有如下特點:
分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測定;
熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,輕元素稍差;
分析樣品不被破壞,分析快速,準確,便于自動化。
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