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Gigahertz Optik 光譜輻射儀 BTS2048-UV-F
使用這款高質(zhì)量的緊湊型光纖耦合光譜儀進(jìn)行紫外測量
Gigahertz Optik 光譜輻射儀 BTS2048-UV-F
使用這款高質(zhì)量的緊湊型光纖耦合光譜儀進(jìn)行紫外測量
?BTS2048-UV 的光纖耦合版本
?高雜散光減少、高光學(xué)分辨率、BiTec 傳感器
?超快速接口和電子快門
?適用于各種測量任務(wù)(UV LED、氘燈、鎢燈到太陽輻射)
?高雜散光減少有助于將精確校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換為精確測量




Gigahertz Optik 光譜輻射儀 BTS2048-UV-F
用于紫外線輻射的 BTS2048-UV-F CCD 光譜輻射儀
BTS2048-UV-F 滿足高-端紫外二極管陣列光譜輻射儀的所有要求,盡管采用尖-端技術(shù),但價格極-具吸引力。它是我們 BTS2048-UV 的光纖耦合版本。
BiTec 傳感器的一個獨-特之處在于它結(jié)合了背照式 CCD 光譜儀和光電二極管,可提供高線性度,從而實現(xiàn)極快的測量 (參見有關(guān) BiTec 傳感器的技術(shù)文章 )。 采用熱電冷卻的完-全線性化 2048 像素 CCD 探測器的積分時間范圍為 2 μs 至 60 s,因此具有非常寬的動態(tài)范圍。這使得能夠在較寬的強(qiáng)度范圍內(nèi)精確測量 UV LED。該光譜儀還配備了兩個濾光片,用于自動測量低雜散光。對于存在其他光源的寬帶 UV 燈和 UV LED 來說,這種測量是必要的。 另請參閱我們關(guān)于光譜輻射儀雜散光減少的技術(shù)文章 。此外,還可以進(jìn)行雜散光矩陣校正。盡管尺寸緊湊,但 BTS2048-UV-F 光譜輻射儀具有一個帶有兩個濾光片的遙控濾光輪和一個用于暗測量的快門。光纖適配器專為高重現(xiàn)性而設(shè)計,并擁有 Gigahertz-Optik 光纖。FC 連接是可選的。
用戶軟件和開發(fā)人員軟件
標(biāo)準(zhǔn)的 S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面,并提供大量的顯示和功能模塊,這些模塊可以在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應(yīng)附件組件配置 BTS2048-UV-F 時激活。S-SDK-BTS2048 開發(fā)人員軟件用于將 BTS2048-UV-F 集成到客戶自己的軟件中。
校準(zhǔn)
光度測量設(shè)備的一個基本質(zhì)量特征是其精確和可追溯的校準(zhǔn)。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校準(zhǔn)實驗室進(jìn)行校準(zhǔn),該實驗室的光譜響應(yīng)度和光譜輻照度根據(jù) ISO/IEC 17025 獲得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的認(rèn)可。校準(zhǔn)還包括相應(yīng)的附件組件。每臺設(shè)備都附有相應(yīng)的校準(zhǔn)證書。

常規(guī)
簡短描述
紫外優(yōu)化型 TE 冷卻 CCD 光譜儀,具有寬動態(tài)范圍,適用于連續(xù)波和輻照度、光譜和峰值波長的短期測量。其他參數(shù)的附件。
主要特點
緊湊的設(shè)備。BiTec 探測器,帶有背照式 TE 冷卻 CCD(2048 像素,0.8 nm 光學(xué)分辨率,電子快門)和 SiC 光電二極管。光帶寬校正 (CIE214)。帶百葉窗和邊緣濾鏡的濾光輪。光纖連接器。
測量范圍
取決于配件。響應(yīng)度從 190 nm 到 430 nm。
典型應(yīng)用
用于設(shè)計應(yīng)用的 CCD 光譜儀。用于集成到前端和后端 LED 測試測試系統(tǒng)中的模塊。
校準(zhǔn)
工廠校準(zhǔn)。可追溯至國際校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
產(chǎn)品
典型應(yīng)用
用于光譜輻照度、紅斑等的測光表
測量數(shù)量
光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質(zhì)心波長、紅斑。選項積分球:此外還有光譜輻射功率 (W/nm) 和輻射功率 (W)
輸入光學(xué)元件
導(dǎo)光器適配器
濾光片轉(zhuǎn)盤
4 個位置(開放、關(guān)閉、濾光片)。用于遠(yuǎn)程暗電流測量和雜散光減少。
比特克
可以使用二極管和陣列進(jìn)行并行測量,從而允許對光電二極管進(jìn)行輻射縮放以匹配光譜數(shù)據(jù)。
測量模式
標(biāo)準(zhǔn)測量模式:200 nm 至 430 nm
超出范圍的雜散光校正測量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm
雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm
光譜檢測器
積分時間
2 μs - 60 s *1
光譜范圍
(190 - 430) 納米
光帶寬
0.8 納米
像素分辨率
~0.13 nm/像素
像素數(shù)
2048
芯片
高靈敏度背薄型 CCD 芯片,單級冷卻 (1TEC)
模數(shù)轉(zhuǎn)換器
16 位(25 ns 指令周期時間)
峰值波長
± 0.05 納米
帶通校正
支持?jǐn)?shù)學(xué)在線帶通校正
線性
完-全線性化芯片 >99.6%
雜散光
越界方法 < 1E-4 *3
基線噪聲
5 克拉 *4
信 噪 比
5000 *5
動態(tài)范圍
>9 星等
集成檢測器
測量時間
(0.1 - 6000) 毫秒
測量范圍
七 (7) 個測量范圍,具有卓-越的偏移校正
濾波器
對光譜數(shù)據(jù)中的矩形函數(shù)的響應(yīng)度進(jìn)行數(shù)學(xué)調(diào)整。
圖
光譜響應(yīng)度

雜項
微處理器
32 位設(shè)備控制,16 位 CCD 陣列控制,8 位光電二極管控制
接口
USB V2.0、以太網(wǎng)(LAN UDP 協(xié)議)、RS232、RS485
數(shù)據(jù)傳輸
標(biāo)準(zhǔn),通過以太網(wǎng) 7 毫秒,通過 USB 2.0 140 毫秒,2048 個浮點數(shù)組值
輸入接口
2 個 (0 - 25) VDC,1 個光耦合器隔離 5 V / 5 mA
輸出接口
2 個集電極開路,最大 25 V,最大 500 mA
觸發(fā)
包含觸發(fā)輸入(不同選項、上升沿/下降沿、延遲等)
軟件
用戶軟件 S-BTS2048
可選的軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048,用于基于 C、C++、C# 或 LabView .dll 的用戶軟件設(shè)置。
電源
帶電源:直流輸入 5V (±10 %),700 mA
帶 USB 總線 (500mA) *8
尺寸
103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米(長 x 寬 x 高)
重量
500 克
安裝
三腳架和 M6 螺紋
前適配器 UMPA-1.0-HL,用于積分球端口框架 UMPF-1.0-HL
溫度范圍
儲存:(-10 至 50)°C
作:(10 至 30)°C *9
信息
*1 建議對積分時間的每次變化執(zhí)行新的暗信號測量
*2 典型值,主波長的不確定性取決于 LED 的光譜分布
*3 典型值,在冷白光寬帶 LED 峰值左側(cè) 100 nm 處測得,具有深藍(lán)色 LED 峰值
*4 *5 典型值,在 4ms 測量時間和陣列的滿量程控制下,未取平均值測量。平均導(dǎo)致 S/N 的二次增長
即基噪聲的二次下降,例如,平均到系數(shù) 100 會使 S/N 提高 10 倍
*6 最小 500/1 S/N. 滿量程控制時最大。
*7 為避免熱損傷,僅允許短時間照射
*8 在 USB 連接期間,由于電流供應(yīng)有限,例如沒有以太網(wǎng)和 TEC 冷卻,并非所有功能都可用
*9 在大約 25 分鐘內(nèi)實現(xiàn)溫度穩(wěn)定所需的設(shè)備。在預(yù)熱階段進(jìn)行測量,或者如果進(jìn)行測量
在不同溫度下,每次測量都需要進(jìn)行暗信號測量
*10 使用氘燈的 a(Z) 校正
*11 通過氘燈的光譜功率分布,最大輻射只允許很短的時間,以避免熱損傷