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光譜儀的工作原理
光譜儀的工作原理
光譜儀的工作原理元素的原子在激發(fā)光源的作用下發(fā)射譜線，譜線經(jīng)光柵分光后形成光譜，每種元素都有自己的特征譜線，譜線的強(qiáng)度可以代表試樣中元素的含量，用光電檢測(cè)器將譜線的輻射能轉(zhuǎn)換成電能。檢測(cè)輸出的信號(hào)，經(jīng)加工處理，在讀出裝置上顯示出來(lái)。 然后根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制作的分析曲線，得出分析試樣中待測(cè)元素的含量。
表面輪廓儀介紹
表面輪廓儀 - 簡(jiǎn)介
表面輪廓儀LK-200M型表面輪廓儀采用廣精精密的基于windows版本的測(cè)量軟件，具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理分析功能。測(cè)量時(shí)，零件裝夾位置即使任意放置，也能得到滿意的測(cè)量結(jié)果；即使需要測(cè)量長(zhǎng)度為220mm的工件，測(cè)量軟件也能保證其1μm的采樣步長(zhǎng)。
LK-200H型表面輪廓儀采用耐用可靠的16位A/D功能板，其*的分辨率量程比（1/65536），用戶即使需要大量程測(cè)量，仍能保持*的測(cè)量精度。
LK-200M型表面輪廓儀采用工控計(jì)算機(jī)處理測(cè)量數(shù)據(jù)及儀器控制操作。其高質(zhì)量、高可靠性及突出的防塵、防振、防油、防靜電能力使廣精精密用戶將使用維護(hù)成本降至zui低。
表面輪廓儀 - 原理
表面輪廓儀LK-200M型表面輪廓儀采用直角坐標(biāo)法，傳感器移動(dòng)式。直線運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌采用高精度氣浮導(dǎo)軌，作為測(cè)量基準(zhǔn)；電器部分由計(jì)算機(jī)組成；測(cè)量軟件采用基于中文版Windows操作系統(tǒng)平臺(tái)的系統(tǒng)測(cè)量軟件，完成數(shù)據(jù)采集、處理及測(cè)量數(shù)據(jù)管理等工作。
表面輪廓儀 - 功能
角度處理：兩直線夾角、直線與Y軸夾角、直線與X軸夾角
點(diǎn)線處理：兩直線交點(diǎn)、交點(diǎn)到直線距離、交點(diǎn)到交點(diǎn)距離、交點(diǎn)到圓心距離、交點(diǎn)到點(diǎn)距離
圓處理：圓心距離、圓心到直線的距離、交點(diǎn)到圓心的距離、直線到切點(diǎn)的距離
線處理:直線度、凸度、LG凸度、對(duì)數(shù)曲線
表面輪廓儀 - 技術(shù)規(guī)格
表面輪廓儀測(cè)量長(zhǎng)度：≤200mm
Y量程：10mm
可測(cè)零件直徑：12mm≤內(nèi)圈≤300mm，外圈可較大
工作壓力：0.35～0.43Mpa
氣源壓力：0.45～0.80Mpa
氣源流量：≥0.2m³/min
電源：AC220V±10%50Hz
環(huán)境要求：溫度：10～30℃；相對(duì)濕度：＜85%
主機(jī)重量：約200Kg
主機(jī)尺寸：750mm×480mm×1300mm
表面輪廓儀 - 儀器精度
表面輪廓儀導(dǎo)軌直線性系統(tǒng)精度：≤0.2μm/100mm
示值誤差:0.6%-0.15%±3μm
電感傳感器分辯率/量程：1/65536
X向光柵分辯率:1μm國(guó)產(chǎn)
表面輪廓儀 - 電器系統(tǒng)
表面輪廓儀用于處理測(cè)量數(shù)據(jù)，儀器控制操作界面的工控機(jī)
電感傳感器及16位A/D轉(zhuǎn)換功能板
前置放大箱
光柵尺
彩色噴墨打印機(jī)
表面輪廓儀 - 機(jī)械結(jié)構(gòu)
表面輪廓儀高精度氣浮導(dǎo)軌
花崗巖工作臺(tái)面
進(jìn)口滾珠絲桿立柱
硬質(zhì)合金測(cè)量頭（斜測(cè)頭、錐形測(cè)頭）及寶石球測(cè)頭
空氣過(guò)濾系統(tǒng)
裝夾機(jī)構(gòu)
人體工學(xué)計(jì)算機(jī)臺(tái)
表面輪廓儀 - 測(cè)量軟件
表面輪廓儀的測(cè)量軟件基于windows操作系統(tǒng)為操作平臺(tái)
表面輪廓儀 - 相關(guān)產(chǎn)品
LK-120M型表面輪廓儀
LK-120H型表面輪廓儀
LK-200M型表面輪廓儀
LK-200H型表面輪廓儀
雙面軸承振動(dòng)檢測(cè)裝置
雙面軸承振動(dòng)檢測(cè)裝置，包括轉(zhuǎn)動(dòng)軸（1）、振動(dòng)檢測(cè)觸頭（2）、機(jī)架（12）、軸承上料裝置、軸承翻轉(zhuǎn)裝置（10、101、102）、軸承搬送裝置（3）、分類排出裝置（20）、中央控制系統(tǒng)和若干傳感器，傳感器、振動(dòng)檢測(cè)觸頭與中央控制系統(tǒng)電連接，中央控制系統(tǒng)分別與軸承上料裝置、軸承翻轉(zhuǎn)裝置（10、101、102）、軸承搬送裝置（3）、分類排出裝置（20）電連接，其特征在于軸承上料裝置包括2根頂軸（4）、驅(qū)動(dòng)氣缸（7）和2上料通道（9）； 所述的2頂軸（4）設(shè)置在機(jī)架（12）上的軸套（13）內(nèi)，2頂軸（4）前端分別設(shè)有上料壓爪（11），所述的上料通道（9）設(shè)置在頂軸（4）前部，上料通道（9）上設(shè)置有壓爪孔； 所述的驅(qū)動(dòng)氣缸（7）上設(shè)有推動(dòng)連桿（71），推動(dòng)連桿（71）與驅(qū)動(dòng)氣缸（7）相連接，推動(dòng)連桿（71）上方通過(guò)傳動(dòng)裝置（5）與2頂軸（4）相連接，推動(dòng)連桿（71）下方則固定設(shè)有推動(dòng)軸（8），所述的2上料通道（9）分別設(shè)置在推動(dòng)軸（8）的前端。
磁粉探傷儀的原理和適用范圍
鐵磁性材料被磁化后，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度，磁力線密度增大到幾百倍到幾千倍，如果材料中存在不連續(xù)性，磁力線會(huì)發(fā)生畸變，部分磁力線有可能逸出材料表面，從空間穿過(guò)，形成漏磁場(chǎng)，漏磁場(chǎng)的局部磁極能夠吸引鐵磁物質(zhì)。如果在工件上撒上磁粉，漏磁場(chǎng)會(huì)吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積(磁痕)，從而顯示缺陷。將工件磁化后，磁力線應(yīng)均勻平行的穿過(guò)工件，若遇到缺陷，磁力線受到阻礙，磁力線會(huì)繞過(guò)缺陷穿過(guò)工件。缺陷在表面或近表面時(shí)，部分磁力線可能逸出材料表面，形成漏磁場(chǎng)，如果在工件上撒上磁粉，漏磁場(chǎng)會(huì)吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積(磁痕)，從而顯示缺陷。從原理可知，缺陷形狀與磁力線方向垂直的缺陷容易被發(fā)現(xiàn)。
磁粉探傷只能檢測(cè)出鐵磁性材料制成的工件表面和近表面的裂紋及其它缺陷。
γ射線探傷儀的原理
γ射線有很強(qiáng)的穿透性，γ射線探傷就是利用γ射線得穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。γ射線雖然不會(huì)像可見(jiàn)光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來(lái)接收。當(dāng)γ射線穿過(guò)（照射）物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多，即射線能穿透過(guò)該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時(shí)，若用照相底片接收，則底片的感光量就小；若用儀器來(lái)接收，獲得的信號(hào)就弱。因此，用γ射線來(lái)照射待探傷的零部件時(shí)，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過(guò)的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影；若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過(guò)量。一般情況下，γ射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說(shuō)，γ射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此，γ射線探傷對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷zui敏感。即γ射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。