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絕緣電阻測試方法總結(jié)
閱讀：319發(fā)布時間：2025-3-10
絕緣電阻測試方法總結(jié)：
方法 | 原理 | 優(yōu)點 | 缺點 | 適用場景 |
串聯(lián)法 | 將待測電阻Rx 與已知電阻Rs 串聯(lián)，測量分壓計算Rx 。 | 簡單易行，適合高阻值測量。 | 線性刻度誤差大，依賴電壓源的精度。 | 實驗室中高阻材料測試。 |
并聯(lián)法 | 將Rx與標(biāo)準(zhǔn)電阻并聯(lián)，通過總電流反推 Rx 。 | 適合低阻值測量。 | 小阻值易受接觸電阻干擾。 | 精度需求較低的現(xiàn)場檢測。 |
電壓比較法 | 基于分壓原理，比較標(biāo)準(zhǔn)電阻與待測電阻的電壓比值。 | 電路簡潔，適合中高阻值。 | 需要高精度電壓表。 | 中壓設(shè)備絕緣性能檢測。 |
電橋法 | 平衡電橋兩臂電壓，利用橋臂電阻比例關(guān)系計算Rx 。 | 高精度（±0.1%），分辨率優(yōu)。 | 需手動平衡，操作復(fù)雜，耗時。 | 實驗室精密測量（如校準(zhǔn)芯片封裝）。 |
全橋法 | 四電阻平衡橋，消除溫度漂移與接觸電阻影響。 | 抗干擾性強，熱穩(wěn)定性好。 | 設(shè)備復(fù)雜，成本高。 | 高精度半導(dǎo)體材料測試。 |
半橋法 | 僅用兩電阻橋臂，電路簡化。 | 操作便捷，成本較低。 | 精度較低（±1%）。 | 工業(yè)常規(guī)檢測。 |
電容充放電法 | 測量RC電路充放電時間常數(shù)，通過t= R×C 計算電阻。 | 適合超高阻（>101?Ω），抗干擾性好。 | 需精確計時設(shè)備，低頻響應(yīng)差。 | 電力電纜絕緣老化評估。 |
高壓測漏流法 | 施加標(biāo)準(zhǔn)高壓（如1000 V），直接測量漏電流 I，由 R=V/I 計算電阻。 | 自動化高，量程廣（10?~101?Ω）。 | 需高壓防護設(shè)計，成本較高。 | 工業(yè)主流（IEC 60243標(biāo)準(zhǔn)測試）。 |
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