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近紅外光譜譜區范圍為800-2500nm區域，S400屬于漫反射型，其光譜譜區范圍為1300nm-2500nm；S410屬于透射型，其光譜譜區范圍為900nm-1700nm。近紅外分析法應用于定性及定量分析具有分析速度快、樣品制備簡單量小、以單個光譜可進行多種分析、不消耗樣品及無化學污染等優點
產品簡介
詳細介紹
儀器簡介：
近紅外光譜譜區范圍為800-2500nm區域，S400屬于漫反射型，其光譜譜區范圍為1300nm-2500nm；S410屬于透射型，其光譜譜區范圍為900nm-1700nm。近紅外分析法應用于定性及定量分析具有分析速度快、樣品制備簡單量小、以單個光譜可進行多種分析、不消耗樣品及無化學污染等優點
儀器用途：
近紅外分光光度計可廣泛用于谷物、油料、食品、動物飼料、紡織品、藥品、化工產品等的分析測定。主要用于對液體、無懸浮物溶膠、固體、粉末及顆粒狀、涂層等樣品化學、物理性質作快速無損定性、定量分析。
儀器特點：
★ 近紅外定性及定量分析軟件包，隨機提供外接手提電腦，可運行Windows界面數據采集分析處理控制軟件，執行單通道光譜掃描、自檢校正、機內建模、檢驗及轉移模型、樣品分析、多通道運算、通道掃描曲線存儲/顯示比較/打印報告等功能。
★ 描速度小于2min。
★ S400配日本*帶制冷PbS檢測器，積分球反射率95%以上。置式樣品池結構，兩種樣品池用于不同樣品。
★ S400旋轉式樣品臺背景固定，樣品可*旋轉作多面測定，解決混合不均勻問題。
★ S410配日本*銦鎵砷檢測器。4連池結構樣品池，方便樣品測量。
詳細參數：
技術參數 | 技術指標 |
儀 器 | S400 |
光 學 系 統 | 自動波長掃描C-T型單色器 |
儀 器 類 型 | 漫反射型 |
適用樣品類型 | 固體顆粒、固體粉末等 |
檢 測 器 | 日本*制冷型PbS檢測器 |
儀器波長范圍 | 1300~2500nm |
波 長 準確度 | ±1.5nm |
波 長 重復性 | ≤1.0nm |
波長掃描間隔 | 三檔可選：4nm、8nm、16nm |
吸光度重復性 | ≤0.002A（在0.4A處） |
信 噪 比 | ≥10³（在1500nm處） |
接 口 類 型 | RS232串口 |
電 源 | 220V/50Hz，110V/60Hz |
尺 寸（mm） | 540*370*240 |
重 量 | 凈重：18kg 毛重：20kg |
標準配置：
標準配置項目 | 數 量 |
近紅外分光光度計主機 | 一 臺 |
產品使用說明書 | 一 本 |
產品合格證明書 | 一 份 |
軟 件 光 盤 | 一 張 |
配件盒（S400） | 一 盒 |
電 源 電 纜 | 一 根 |
RS232串口電纜數據線 | 一 根 |
熔絲（2A） | 各2只 |
裝 箱 單 | 一份 |