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Z適合半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能Z強勁的分光光度系統。
● 高性能的固體，液體，渾濁樣品測試系統。
● 透射，鏡面反射和漫反射都可測試。
● 使用超大樣品艙，樣品Z大可至430 x 430mm，大型樣品測試也無需破壞。
● 紫外區Z低可測至175nm。
產品簡介
詳細介紹
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| 產品介紹： |
U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計 積分球分光光度計產品專家 有四種系統可選： U4100固體樣品測試系統 積分球標準配置適合于固體樣品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依賴的透射。不同的測試目的可能要選用不同的測試附件，豐富的附件可使系統更滿足您的工作需求。也適用于液體樣品的測試。 U4100大樣品測量系統 (240-2600nm) 積分球標準配置適合于固體樣品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依賴的透射。擁有超大樣品倉，對于大型樣品的透射/反射測量非常方便，比如玻璃板材，單晶硅片，液晶板，激光晶體，透鏡組等超大，超長樣品都可進行無破壞檢測。也適用于液體樣品的測試。可擴展附件用于角度依賴漫透射角度依賴漫反射測量。 U4100紫外區高靈敏度測量系統 此系統采用的光源、單色器和檢測器都是經過特別設計和選擇，適合應用于紫外區 U4100通用型測試系統 采用光束直接入射檢測器方式，擴寬了測定的波長范圍。裝配標準10mm直角液體池，用于液體樣品的透過率和吸光度的測定。也可選配積分球附件用于固體樣品測試。
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的光譜研究，特別是175-190nm這個區域有很好的光學性能。可測試那些應用在紫外光譜區的光學部件樣品。