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QQ交談泰克推出業(yè)內(nèi)*個(gè)ONFI閃存標(biāo)準(zhǔn)測試解決方案
點(diǎn)擊次數(shù)：3556 發(fā)布時(shí)間：2016-12-13
的測量解決方案提供商——泰克公司日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出業(yè)內(nèi)*個(gè)測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案適用于泰克高性能示波器，包括在ONFI總線上分析DDR2/3模式的軟件，以及基于插補(bǔ)器 (Interposers)的探測解決方案。
ONFI標(biāo)準(zhǔn)由ONFI工作組發(fā)布，旨在簡便于把NAND閃存整合到消費(fèi)電子和計(jì)算平臺(tái)中。ONFI 4.0規(guī)范引入不斷進(jìn)化的NV-DDR3接口，其工作電壓為VccQ = 1.2V，不僅提高了性能，還改善了功耗，并把NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴(kuò)展到667 MT/s和800 MT/s，增加了ZQ校準(zhǔn)功能。由于速度提高和電壓下降，處理ONFI總線的設(shè)計(jì)人員面臨著諸多挑戰(zhàn)，如保證一致性，調(diào)試定時(shí)問題，獲得信號(hào)。通過TEK-PGY-ONFI軟件，設(shè)計(jì)和測試工程師可以測試ONFI接口是否滿足ONFI總線定時(shí)參數(shù)，并自動(dòng)測量Command、Address、Data in和Data out業(yè)務(wù)。TEK-PGY-ONFI軟件中的細(xì)節(jié)視圖功能通過進(jìn)行標(biāo)注，把ONFI波形的每個(gè)電氣測量指標(biāo)與模擬波形關(guān)聯(lián)起來，幫助用戶調(diào)試定時(shí)問題。密集封裝和高數(shù)據(jù)速率給NAND閃存器件中的高保真信號(hào)接入帶來了挑戰(zhàn)。泰克支持各種不同的機(jī)械外形，包括帶有插口的探頭設(shè)計(jì)、直接連接探頭設(shè)計(jì)、已獲的邊緣探頭設(shè)計(jì)，可以滿足異常緊張的機(jī)械要求。其提供了插補(bǔ)器 (Interposers)和探頭S參數(shù)模型，用于建模或生成應(yīng)用到示波器中的反嵌濾波器。
TEK-PGY-ONFI軟件在帶寬為4GHz -33GHz的泰克MSO/DPO70000系列示波器上運(yùn)行，推薦在測試中使用P7500或P7300系列探頭。有些客戶在進(jìn)行ONFI測試時(shí)，可能很難或根本不能接入信號(hào)，因此泰克推薦使用Nexus開發(fā)的ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真插補(bǔ)器 (Interposers)，實(shí)現(xiàn)信號(hào)接入，同時(shí)保持信號(hào)完整性。
“這種ONFI測試解決方案為客戶提供了所需的洞察力，使他們能夠更快、更加滿懷信心地把基于內(nèi)存的產(chǎn)品推向市場。”泰克科技公司高性能示波器總Brian Reich說，“與手動(dòng)測試相比，這一解決方案明顯縮短了一致性測試時(shí)間，簡化了調(diào)試工作，zui終提升了生產(chǎn)效率。”
推出的TEK-PGY-ONFI軟件完善了泰克為其他內(nèi)存技術(shù)提供的全面解決方案，包括eMMC, UFS和DDRA。