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高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯...
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一、儀器參數1、測量范圍：DC±0.0001V～±200V2、準確度：±（0.5％讀數＋2字）3、輸入阻抗：1×1014Ω（100TΩ）4、漂移：時間漂移：2...
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1.介電（dielectricity)概念如果將某一均勻的電介質作為電容器的介質而置于其兩極之間，則由于電介質的極化，將使電容器的電容量比真空為介質時的電容量增加若干倍。物體的這一性質稱為介電性。2....
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電荷在導體中運動時，會受到分子和原子等其他粒子的碰撞與摩擦，碰撞和摩擦的結果形成了導體對電流的阻礙，這種阻礙作用明顯的特征是導體消耗電能而發熱（或發光)。物體對電流的這種阻礙作用，稱為該物體的電阻。電...
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四探針法通常用來測量半導體的電阻率。四探針法測量電阻率有個非常大的優點，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。與四探針法相比，傳統的二探針法方便些，因為它只需要操作兩個探針，但是處...
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耐高溫絕緣材料在汽車零部件、半導體工業、航天工業、石化行業、機械工業、醫療行業、電子電器等等領域得到廣泛的應用，主要還是因為它具有以下耐性：1、耐高溫：玻璃化溫度高達143C，熔點為343C，經GF或...
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熱刺激理論是在介質物理的基礎上發展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質（如電介質、絕緣材料、半導體、駐極體等）的微觀參數，熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量...
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高溫四探針綜合測試系統（包含薄膜，塊體功能）是為了方便的研究在高溫條件下的半導體的導電，該系統可以實現在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及...
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電流表又稱“安培表”，是測量電路中電流大小的工具，主要采用磁電系電表的測量機構。分流器的電阻值要使滿量程電流通過時，電流表滿偏轉，即電流表指示達到最大。對于幾安的電流，可在電流表內設置zhuan用分流...
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目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實現溫度的測量，加熱區域也存在不均勻的現象，華測儀器通過多年研究開發了一種可實現，高反射率的拋物面與...
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