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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀的性能特點(diǎn)
膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀的性能特點(diǎn)
一、膏體膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：
表面、體積電阻率測(cè)定儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和美準(zhǔn)ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。其準(zhǔn)確度優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)要求的幾倍甚至10 倍以上(標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》對(duì)度的規(guī)定為低于1010Ω為±10%, 高電阻時(shí)為±20%。)。本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×104Ω ～1×1018 Ω，范圍寬，準(zhǔn)確度高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測(cè)量?jī)x器。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。測(cè)試電壓為10/50/100/250/500/1000V 任意可調(diào)。適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。
二、膏體膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
1．電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω
2．電流測(cè)量范圍: 2×10-4A～1×10-16A
3．顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示
4．內(nèi)置測(cè)試電壓：10V、50V、100V、250、500、1000V
5．基本準(zhǔn)確度：3‰
6．使用環(huán)境: 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%
7．機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓: 10/50/100/250/500/1000V 任意切換
8．供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W
9．儀器尺寸: 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm
10．質(zhì)量: 約2.8KG
三、膏體膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀性能特點(diǎn)：
1、表面體積電阻率測(cè)試儀采用芯片；
2、可使用皮安電流表使用，也可以外加高電壓的直流源；
3、具有自動(dòng)計(jì)算絕緣電阻、體積、表面電阻率功能、溫度、濕度在線檢測(cè)；
4、采用屏蔽環(huán)技術(shù)、真正屏蔽不屬于測(cè)試材料的泄露電流（華測(cè)高阻計(jì)的測(cè)試數(shù)據(jù)和設(shè)備具有可比性）；
5、測(cè)試過(guò)程只需選擇電壓量程即可開(kāi)始試驗(yàn)，無(wú)需人員再手動(dòng)切換電流檔（儀器本身具有尋檔技術(shù)）；