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14產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
差熱分析儀是什么？
差熱分析儀主要由溫度控制系統(tǒng)和差熱信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)組成，輔之以氣氛和冷卻水通道，測(cè)量結(jié)果由記錄儀或計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)處理。
華測(cè)差熱分析（DTA）是在程序控制溫度下，測(cè)量物質(zhì)和參比的溫度差和溫度關(guān)系的一種技術(shù)。當(dāng)試樣發(fā)生任何物理或化學(xué)變化時(shí)，所釋放或吸收的熱量使試樣溫度高于或低于參比物的溫度，從而相應(yīng)地在差熱區(qū)線上可得到放熱或吸熱峰。差熱曲線（DTA）是由差熱分析得到的記錄曲線。曲線的縱坐標(biāo)為試樣與參比物的溫度差（△T），向上表示放熱反應(yīng)，向下表示吸熱反應(yīng)。差熱分析也可以測(cè)定試樣的熱容變化，它在差上發(fā)映出基線的偏離。
技術(shù)指標(biāo)
1. 溫度范圍: 室溫~1000℃
2. 量程范圍: 0～±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升溫速率: 1～80℃/min
5. 溫度分辨率: 0.1℃
6. 溫度準(zhǔn)確度: ±0.1℃
7. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃
8. 溫度控制: 升溫：程序控制 可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整
降溫：風(fēng)冷程序控制 可選配半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng)、液氮冷卻系統(tǒng)等
恒溫：程序控制 恒溫時(shí)間任意設(shè)定
9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開(kāi)蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作
10. 氣氛控制: （選配）氣體流量計(jì)，氣氛轉(zhuǎn)換裝置
11. 數(shù)據(jù)接口: RS-232串口通訊 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
12. 主機(jī)顯示: 漢字大屏液晶顯示藍(lán)底白字
13. 參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物,用戶可自行對(duì)溫度進(jìn)行校正
14. 基線調(diào)整: 用戶可通過(guò)基線的斜率和截距來(lái)調(diào)整基線
15. 工作電源: AC 220V 50Hz
華測(cè)其他相關(guān)產(chǎn)品：
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
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