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關于四探針測試儀
四探針測試儀
產品名稱：四探針測試儀
產品型號：HCTZ-2S
品牌：北京華測
產品介紹
HCTZ-2S四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
HCTZ-2S雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M.標準。利用電流探針、電壓探針的變換，采用兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途。
四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析。
產品應用
HCTZ-2S四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
產品特點
1.TVS瞬間抑制防護技術： 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于閃絡放電過程中的浪涌對控制系統的防護起不到任何作用。華測獨立開 發的TVS瞬間抑制防護技術，。
2.多級循環溫度采集技術： 設備采用PID算法，以及多級循環溫度采集以保證溫度的有效值。控溫和測溫采用同一個傳感器，保證樣品每次采集的溫度都 是樣品實際溫度.
3.雙系統互鎖技術及隔離屏蔽技術： 本設備不僅具備過壓、過流保護系統，它*的雙系統互鎖機制，當任何元器件出現問題或單系統出現故障時，將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測技術以保證采集電流的有效值 ，以及電流抗干擾的屏蔽。
4.SPWM電子升壓技術 目前設備大都采用SPWM電子升壓技術，這一技術具有升壓速度平穩，精度高。便于維護等優點是調壓器*的。
軟件平臺
HCTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其他新材料測試多樣化的需求。
測試系統的軟件平臺hcpro，采用labview系統開發，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備穩定性和性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，支持的標準。兼容XP、win7、win10系統。
軟件功能
- 可編輯樣品名稱、牌號、試驗條件、試驗單位等；
- 具有試驗電壓設置功能；
- 可選擇試驗標準
- 可選擇是否自定義或自動試驗
- 截止條件：時間/電壓/電流/溫度;
- 語音提示:可選擇是否語音提示功能。
- 統計報告：可自定報表格式
- 可生出PDF、CSV、XLS文件格式
- 分析功能：可對測試的數據進行統計。大/小值、平均值等。
技術參數
測量范圍
電 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω
電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□
數字電壓表
- 量程：20.00mV~2000mV
- 誤差：±0.1%讀數±2字
數控恒流源
- 量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A
- 誤差：±0.1%讀數±2字
四探針探頭
- 碳化鎢探針：Ф0.5mm，直流探針間距1.0mm，探針壓力：0~2kg可調