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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
關(guān)于檢測(cè)電壓擊穿的測(cè)試規(guī)范的問(wèn)題
關(guān)于檢測(cè)電壓擊穿的測(cè)試規(guī)范的問(wèn)題如下
- GB/T1408.1-2016測(cè)試規(guī)范中提及的「垂直于非層迭材料表面和垂直于層迭材料層向的試驗(yàn)」與「平行于非層迭材料表面和平行于迭層材料層向的試驗(yàn)」,這兩種測(cè)試原理及差異為何?
答:、垂直擊穿:是材料在垂直層向擊穿(等徑,不等徑、球板電極),而平行層向材料的擊穿相對(duì)殘酷。表面上看是高電壓在材料的表面進(jìn)行形成通路。為材料表面的抗電*度試驗(yàn),試驗(yàn)過(guò)程電壓高。見(jiàn)附圖五,黑色為擊穿較果,黃圈為錐銷(xiāo)電極。
- 檢測(cè)電壓擊穿的試樣,如果是選擇環(huán)氧樹(shù)脂熱固化型灌注樹(shù)脂(如附圖一所示),在GB/T1408.1-2016檢測(cè)規(guī)范上,是將此試樣歸類(lèi)在模塑材料中的熱固性材料或彈性體呢?還是兩者皆是?
答:用球板電極理論比其它電極的擊穿電壓高,原因如下:因?yàn)殡姌O為球形,電場(chǎng)比較均勻。不存在放電的問(wèn)題。如果在高溫下進(jìn)行擊穿,那么貴司的材料可能發(fā)生熱變形的問(wèn)題,那就建議采用球板電極。在實(shí)際的報(bào)告中,一定要明是用那種測(cè)試電極所進(jìn)行的試驗(yàn)。以方便客戶進(jìn)行對(duì)比。所以華測(cè)公司提供給貴司的電極都是包知,等徑、不等徑、球板電極;
- 檢測(cè)電壓擊穿的電極有許多種,像是球-球電極、球-板電極、等直徑電極等,適合我司的環(huán)氧樹(shù)脂熱固化型灌注樹(shù)脂所用的電極是球板電極嗎?如果不是的話,可以請(qǐng)您推薦我司適用的電極嗎?
答:適合貴單位材料測(cè)試的電極是等徑、不等徑、球板電極;
- 我們?cè)诓殚嗠妷簱舸y(cè)試規(guī)范(ASTM D149、IEC 60243-1、GB/T1408.1-2016、JIS C2119、網(wǎng)絡(luò)信息等)時(shí),發(fā)現(xiàn)有些網(wǎng)絡(luò)信息的球板電極尺寸與測(cè)試規(guī)范的球板電極尺寸不大相同,在網(wǎng)絡(luò)信息上看到的球板電極下電極尺寸(如附圖二&附圖三)會(huì)遠(yuǎn)大于測(cè)試規(guī)范中球板電極-下電極尺寸(如附圖四),會(huì)有尺寸的差異是因?yàn)闇y(cè)試的試樣可能不同或是不為固體,所以才有所不同嗎?
- 檢測(cè)電壓擊穿的試片尺寸,除了厚度有明顯的規(guī)范外,試片其他的尺寸大小并無(wú)明確規(guī)范,如果試片尺寸大于球板電極或小于球板電極,兩者檢測(cè)的數(shù)據(jù)是否會(huì)有差異呢?可否請(qǐng)您提供我們使用球板電極測(cè)試電壓擊穿時(shí),試片建議尺寸呢?
答:試片尺寸大小沒(méi)有明確的規(guī)范,但是標(biāo)準(zhǔn)上寫(xiě)明了關(guān)于閃絡(luò)的事宜。如果材料太小,那么電壓過(guò)高時(shí),材料表面就會(huì)形成閃絡(luò)(也就是空氣或其它介質(zhì)發(fā)生擊穿)。而并不是擊穿的現(xiàn)象。擊穿的現(xiàn)象為材料在強(qiáng)電壓的破壞過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生擊穿的孔。所以,用球板電極理論比其它電極的擊穿電壓高,原因如下:因?yàn)殡姌O為球形,電場(chǎng)比較均勻。不存在放電的問(wèn)題。
試片的大小,一般大都在左右,如果電壓過(guò)高、一般放在油中進(jìn)行擊穿。因?yàn)橛偷膿舸╇妷罕炔牧系停蕦?duì)材料擊穿的有效值沒(méi)有影響。
- 檢測(cè)電壓擊穿時(shí),除了會(huì)沿絕緣體內(nèi)部產(chǎn)生放電的擊穿外,也可能會(huì)沿絕緣體表面產(chǎn)生放電的閃絡(luò),如果我司使用球板電極檢測(cè)電壓擊穿時(shí),試片的擊穿模式會(huì)是屬于什么模式的擊穿?
答:如果用球板電極試驗(yàn)。試片的擊穿為材料內(nèi)部放電擊穿。但如果試驗(yàn)尺寸過(guò)小,也會(huì)產(chǎn)生閃絡(luò)。所以盡量把試樣方大,或在油浴里試驗(yàn);