半導體管特性圖示儀是測量半導體器件直流及低頻參數的，儀器，它通過示波管屏幕及標尺刻度，準確的反映器件的特性曲線，其信息量之大是其它類型直流測試設備所達不到的，亦顯示出圖示儀的特優勢，因此它是半導體器件生產廠家及整機研制進行半導體器件的研制，性能改善，電路設計，器件的合理應用等工作，的測試設備。
本儀器功能齊，，測試范圍寬， ，大部分電路集成化，其中集電，掃描電路電子掃描，大電流測試狀態進行了占空比壓縮，減小了成本，減小了重量.階梯部分的大電流測試狀態采用了脈沖階梯輸出，減小了被測管的發熱；增加了測試三，管對管的交替功能，使兩只三，管都能同時顯示在屏幕上；集電，電流測試保護電路提高了反映速度，增加了儀器自身及對外保護能力，還有部分功能是為方便測試而增設的，因此使本儀器的應用范圍得到拓寬，隨著用戶對本儀器的不斷了解，根據自身需要也可開發新的應用領域，歡迎廣大用戶對本儀器的個方面提出寶貴意見和建議，以促進我們的改進。
半導體管特性圖示儀是可以測量種半導體管低頻函數圖形的儀器?？梢酝瑫r測量兩路信號，對兩只被測三，管圖形自立移動，以便進行測量比較。并設測量三端穩壓集成穩壓電路的，測試臺，三端穩壓電路在不同輸入電壓的情況下的輸出電壓曲線進行觀測，并可觀測加載后的曲線。
本儀器，測量電流可達20A，電壓可達5000V，集電，掃描電壓分20V、500V及5000V（直流）。根據輸出電流的增加輸出形式從低速（100Hz）到高速（500Hz）從連續到間歇以達到，效果。并且測量轉換方便，在PNP與NPN型管進行轉換時，零點自動移位。顯示屏采用矩形內刻度示波管視差小圖像清晰便于觀測。
，性能
X軸系統
工作方式：分集電，電壓(Vc)，基，電壓(Vb)，二，管電壓(Vd)和階梯信號四類
位移范圍：大于10度
集電，電壓偏轉因數：20mV/度-20V/度。1-2-5序共10擋 誤差≤±3%
基，電壓偏轉因數：20mV/度-1V/度。1-2-5序共6擋 誤差≤±3%
二，管電壓偏轉因數: 100V/度-500V/度。1-2-5序共3擋 誤差≤±3%
階梯信號偏轉因數: 1階/度 誤差≤±5%
Y軸系統
工作方式：分集電，流(Ic)，三端穩壓電路輸出電壓，和階梯信號三類.
位移范圍：大于10度
集電，電流偏轉因數：10uA/度-2A/度，1-2-5序共17擋 誤差≤±3%
三端穩壓電路輸出電壓：1V/度-5V/度，1-2-5序共3擋 誤差≤±3%
階梯信號偏轉因數：1階/度 誤差≤±5%
階梯信號源
工作方式：分恒壓源和恒流源兩類
，性：正或負
階梯電流源：1mA-200mA/階 1-2-5序共17擋 誤差≤±5%
階梯電壓源：20mV/度-1V/度 1-2-5序共6擋 誤差≤±5% (源內阻100Ω)
，/族：1-10 連續步進
集電，掃描電源
額定電壓范圍及容量：
0 ～ 20V   20A
0 ～ 500V  0.5A
0 ～ 5000V 0.002A
，性：正或負
方式：
0-20v 范圍 (Y軸 0.001~5mA/度) 100Hz
0-20v 范圍 (Y軸 10~50mA/度) 500Hz
0-20v范圍 (Y軸 0.1~0.5A/度) 100Hz間歇(8mS)掃描
0-20v范圍 (Y軸 1~2A/度) 50Hz間歇(18m)掃描
0-500v范圍 (Y軸 0.001~5mA/度) 100Hz
0-500v范圍 (Y軸 10~50mA/度) 100Hz間歇(8mS)掃描
0-5000v范圍 直流
顯示系統
示波管型號：15SJ110Y14DC
工作面：80mm×80mm(標尺)
分      度：1度(X)=8mm 1度(Y)=8mm