電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLZ-370 貨號：ZH6915 
產品簡介
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
測定方法:電磁式及高頻渦流式 
測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上緣層 
測定范圍:電磁式：0～1500um或0～60.0mils 
高頻式:0～800um或0～32.0mils 
測定精度 電磁式：<15um±0.3um  >15um±2% 
高頻式:<50um±1um    >50um±2% 
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
界限設定:可設定上/下限數值 
測試單位:公/英制互換 
顯示方式:LCD數顯 
操作面板:密封防水按鍵 
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 
電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 
體積:80(W)×80(D)×30(H) 
重量:1100g