高頻渦流式薄膜測(cè)厚儀 /膜厚計(jì)日本 型號(hào)：WBLH-200J 貨號(hào)：ZH6917 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
   本儀器采用了渦流測(cè)厚方法，可損的測(cè)量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導(dǎo)電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機(jī)，可打印數(shù)據(jù)，有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能。
測(cè)定方法:高頻渦流式 
測(cè)定對(duì)象:非磁性金屬上緣層 
測(cè)定范圍:電磁式：0～800um或0～32.0mils
測(cè)定精度:<50um±1um  >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 
測(cè)試單位:公/英制互換 
顯示方式:LCD數(shù)顯 
操作面板:密封防水按鍵 
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書 
電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池×4個(gè) 
體積:80(W)×80(D)×30(H) 
重量:1100g