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產(chǎn)品簡介
SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。波長范圍200-900nm。SpecEl通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。
詳細(xì)介紹
橢偏儀
SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。波長范圍200-900nm。SpecEl通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。
集成的精確測量系統(tǒng)
SpecEl由一個(gè)集成的光源，一個(gè)光譜儀及兩個(gè)成70°的偏光器構(gòu)成，并配有一個(gè)32位操作系統(tǒng)的PC.該橢偏儀可測量0.1nm-5um厚的單膜，分辨率0.1nm，測量時(shí)間5-15秒，并且折射率測量可達(dá)0.005%。
配置說明
| 波長范圍: | 380-780 nm （標(biāo)準(zhǔn)） 或450-900 nm （可選） |
| 光學(xué)分辨率: | 4.0 nm FWHM |
| 測量精度: | 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005% |
| 入射角: | 70° |
| 膜厚: | 單透明膜1-5000 nm |
| 光點(diǎn)尺寸: | 2 mm x 4 mm （標(biāo)準(zhǔn)） 或 200 µm x 400 µm （可選） |
| 采樣時(shí)間: | 3-15s （zui小） |
| 動(dòng)態(tài)記錄: | 3 seconds |
| 機(jī)械公差 （height）: | +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0° |
| 膜層數(shù): | 至多32層 |
| 參考: | 不用 |