微區掃描電化學工作站是一個模塊化配置的系統，可以實現如下現今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試。

　　微區掃描電化學工作站出色的性能：

　　1.快速的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的*配置

　　2.先進和靈活的工作平臺

　　3.系統可提供9種探針技術，使得M470成為zui靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。

　　4.全面的附件

　　5.7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。

　　微區掃描電化學工作站應用：

　　掃描電化學顯微系統（SECM）
    交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）
    間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）
    微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
    掃描振動點擊測試系統（SVET）
    電解液微滴掃描系統（SDS）
    交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
    掃描開爾文探針測試系統（SKP）
    非觸式微區形貌測試系統（OSP）

　　微區掃描電化學工作站技術參數：

工作站（所有技術）
掃描范圍（x,y,z）           大于100nm
掃描驅動分辨率              zui高0.1nm
閉環定位                    線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z）            20nm
zui大掃描速度                 12.5mm/s
測量分辨率                   32-bit解碼器@高達40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術）
振動范圍                20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
zui小振動分辨率          0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展            100μm
定位分辨率              0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端                500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元            275×450×400mm(H×W×D)
功率                    250W