掃描振動(dòng)參比電極系統(tǒng)是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測(cè)量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測(cè)量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評(píng)價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測(cè)小于5uA/cm2的原位腐蝕。

　　電化學(xué)顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學(xué)技能，它將一支能夠進(jìn)行三維方向移動(dòng)的超微盤電極作為作業(yè)探針沉浸在電解質(zhì)溶液中，在離基底約幾微米的方位進(jìn)行掃描，通過探針上的電流改變來反映基底的形貌和性質(zhì)。它是一款精密的掃描微電極體系，具有較高空間分辨率，在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。

　　微區(qū)電化學(xué)顯微鏡的日常使用注意事項(xiàng)：

　　1.搬動(dòng)微區(qū)電化學(xué)顯微鏡時(shí)，要一手握鏡臂，一手扶鏡座，兩上臂緊靠胸壁。切勿一手斜提，前后擺動(dòng)，以防鏡頭或其他零件跌落。

　　2.觀察標(biāo)本時(shí)，顯微鏡離實(shí)驗(yàn)臺(tái)邊緣應(yīng)保持一定距離(5cm)，以免顯微鏡翻倒落地。鏡柱與鏡臂間的傾斜角度不得超過45度，用完立即還原。

　　3.使用時(shí)要嚴(yán)格按步驟操作，熟悉顯微鏡各部件性能，掌握粗、細(xì)調(diào)節(jié)鈕的轉(zhuǎn)動(dòng)方向與鏡筒升降關(guān)系。轉(zhuǎn)動(dòng)粗調(diào)節(jié)鈕向下時(shí)，眼睛必須注視物鏡頭。

　　4.觀察帶有液體的臨時(shí)標(biāo)本時(shí)要加蓋片，不能使用傾斜關(guān)節(jié)，以免液體污染鏡頭和顯微鏡。

　　5.粗、細(xì)調(diào)節(jié)鈕要配合使用，細(xì)調(diào)節(jié)鈕不能單方向過度旋轉(zhuǎn)，調(diào)節(jié)焦距時(shí)，要從側(cè)面注視鏡筒下降，以免壓壞標(biāo)本和鏡頭。

　　6.用單筒顯微鏡觀察標(biāo)本，應(yīng)雙眼同時(shí)睜開，左眼觀察物像，右眼用以繪圖，左手調(diào)節(jié)焦距，右手移動(dòng)標(biāo)本或繪圖。

　　7.禁止隨意擰開或調(diào)換目鏡、物鏡和聚光器等零件。

　　8.光學(xué)部件有污垢，可用擦鏡紙或綢布擦凈，切勿用手指、粗紙或手帕去擦，以防損壞微區(qū)電化學(xué)顯微鏡的鏡面。