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參考價(jià)	面議

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池

阻抗測(cè)試儀 IM3570實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查L(zhǎng)CR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量基本精度±0.08%的高精度測(cè)量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量

詳細(xì)介紹

microtest

元器件測(cè)量?jī)x器(電感、電容、電阻測(cè)量)

阻抗分析儀IM3570


標(biāo)配		標(biāo)配	標(biāo)配
	標(biāo)配



1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
阻抗測(cè)試儀 IM3570
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 LCR模式下0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量基本精度±0.08%的高精度測(cè)量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量

阻抗測(cè)試儀 IM3570主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。

基本參數(shù)

測(cè)量模式	LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量
測(cè)量參數(shù)	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測(cè)量量程	100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
顯示范圍	Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測(cè)量頻率	4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)）
測(cè)量信號(hào)電平	V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
輸出阻抗	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF
測(cè)量時(shí)間	0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）
測(cè)量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能	DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能
接口	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤(pán)，LAN
電源	AC90~264V，50/60Hz
打印	拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))
電源	AC90~264V，50/60Hz
體積和重量	330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件	電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1，通訊手冊(cè)×1