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AFG31102發生器泰克一次性加載測試用例
閱讀：113 發布時間：2021-1-7| 提 供 商 | 上海維特銳實業發展有限公司 | 資料大小 | 1.2MB |
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AFG31102發生器泰克一次性加載測試用例
高級模式是 AFG31000 中提供的新模式，可以生成多個復雜定時的波形。在這種模式下，您可以編寫一個由 1~256 個波形組成的列表 ( 或序列 ) ， 總波形長度可達 16Mpts/ch(128Mpts/ch 選配)，并定義這些波形的輸出序列。
支持重復、轉到、等待、跳轉和已觸發事件，大容量內存可以存儲許多波形或長波形。
這種功能特別適合需要順序執行多個測試用例的應用。您不用逐個加載測試用例，而是可以把所有測試用例放到一個序列中，一次性加載這些測試用例，然后從一個測試用例無縫切換到另一個測試用例，大大提高測試效率。
幅度平坦度 (1VP-P, 相對于1kHz)
頻率范圍
AFG31021, AFG31022, AFG31051,
AFG31052, AFG31101, AFG31102
AFG31151, AFG31152, AFG31251,
AFG31252< 5 MHz±0.2 dB±0.2dB≥ 5 MHz ~ 25MHz
-----±0.3 dB≥ 5 MHz ~ 100 MHz±0.3 dB
-----> 25 MHz ~ 100MHz
-----±0.5 dB> 100 MHz ~ 200MHz
-----±1.0 dB> 200 MHz ~ 250MHz
-----±2.0 dB
此外，高級模式采用了可變采樣率技術。波形中的每個樣點輸出一次，且在每個周期中只輸出一次，與采樣率同步。由于沒有跳躍或重復，所以保留了波形中的所有細節。這種功能特別適合對信號保真度要求高的應用，比如 IQ 調制和脈沖串生成。