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    微區掃描電化學是一個精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率。微區掃描電化學在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之 間。微區掃描電化學具有互補性，微區掃描電化學是對溶液中樣品表面進行原子級和納米級成像分析， 微區掃描電化學和EC-AFM更多地展現了電化學過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面 和界面化學性質。微區掃描電化學具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應用情況等特點，適用于分析研究各種實時 和原位的電化學反應過程。微區掃描電化學和EC-AFM強調的是結果，而微區掃描電化學注重的是過程和結果。

    微區掃描電化學有很多潛在的應用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學中的表面反應過程基礎研究、酶穩定性研究、生物大分 子的電化學反應特性以及微機電系統（MEMS）等領域。

   微區掃描電化學系統工作特點：

    1．非接觸測量，不干擾測定體系；

    2. 對界面區狀態的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，

    應力分布，界面區化學分布，電化學分布的變化；

    3. 測定金屬、絕緣膜下金屬和半導體電位分布；

    4. 10E-12A~10E-1 數量級的極弱交流信號的測量，測定裝置必須具

    有很高的抗干擾能力；

    5．在線（In-situ）圖示樣品微區電化學和樣品表面變化過程等；

    6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標配）；

    7．特別適用液相和大氣環境下的材料表面和界面的微區顯微分析。

    微區掃描電化學主要測量材料在液體電解質環境下的局部電化學反應過程；SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環境下 ，甚至其它氣體環境下的微區特性及其隨環境變化過程等。現在公司將用于液體電解質環境下的局部電化學反應 過程的SVET和用于大氣環境下的SKP技術有機的結合在一起，極大地拓展了您的研究領域，有效地利用資源，降 低了您的購買費用。

   微區掃描電化學是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。 普林斯頓VersaScan微區掃描電化學工作站是提供給電化學及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。每個VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環定位系統并安裝于抗震光學平臺上。