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產品簡介
GALVANOTEST2000電鍍層測厚儀，GALVANOTEST2000電解膜厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層。符合標準：DIN EN ISO 2177。
詳細介紹
GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層。符合標準：DIN EN ISO 2177。
GALVANOTEST2000電鍍層測厚儀，GALVANOTEST2000電解膜厚儀技術參數：
GALVANOTEST 可以測量
可以測量70種以上鍍層/基體組合
可以測量平面、曲面上的鍍層
可以測量小零件、導線、線狀零件
預置10種金屬的測量參數：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定）
預置9種金屬的測量參數：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
用戶可另設置1種金屬的測量參數
測量機構：
帶循環泵
帶氣泵
測量面積：
密封墊 8 mm2
密封墊 4 mm2
密封片 1 mm2
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見）
電解杯 0.25-16 mm2 （可選件）
測量參數 優化調整：
除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調
根據金屬和測量表面可直接調整系數
可用厚度標準樣板校準
可調整終點電壓，以抗干擾，適應鍍層/基體之間的合金