XJ55-314030（優勢）激光粒度儀/激光粒度分布儀

分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品，它采用

進口半導體激光器，壽命長，單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子集成電路技術；

高靈敏度的光電池接收系統，全程米氏理論作為基礎，結合優異的計算方法。使測試數據更

加精確，快捷；是目前國內比較經濟實用的一款激光粒度分布儀。

二、技術參數 

測試范圍：0.1μm～500μm

光 源：半導體激光器(波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上)

測試方式：濕法測試

樣品濃度：0.5‰～1%（與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關）

測試時間：少于1分鐘/次，不含樣品分散時間

掃描速度：2000次/秒

重復性誤差：≦1%

電源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W

微機接口：標準 RS-232串行接口

操作系統：可在Windows所有版本的操作系統下運行 

三、產品特點 

（1）功能強大的軟件系統

激光粒度分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科

技產品,數據處理有的計算機分析系統軟件完成，同時由打印機完成測

試報告的輸出。 

（2）*的光路一體化技術

優化的反傅立葉光學變換設計,結合*的光路一體化結構，使光路更

加穩定，長期使用，無須調整；先進的機械設計與加工工藝，使儀器的結構

更緊湊合理;流線型的設計，美觀大方，使用與維護更為方便；有效的屏蔽

與抗干擾技術，使儀器的電氣等性能更加穩定 。 

（3）高靈敏大角度光電接收器陣列

*的光電接收器陣列設計，有效提高了儀器的分辨率。主向光電接收器，共有71個光電池,zui大探測角達21.5°；

非均勻交叉排列的側向光電接收器,共5個光電池，其中，zui大側向角度達75°。

（4）長久耐用

采用波長635nm,功率3mw半導全激光器,使用壽命在25000個小時以上有效提高了激光粒度分布儀的使用和存放時間。

（5）優秀的H.Golub分布反演算法

HYL系列激光粒度測試系統*采用先進的全Mie散射理論作為基礎，并采用優良的H.Golub分布反演算法，結合獨

特的儀器硬件設計,使您測試的樣品無論是單分布的，還是混合的，都能夠使測試數據更加精確、快捷。

（6）輸出結果格式靈活

報告單格式的輸出格式靈活,可根據使用者的需要,編輯包括累計粒度分布數據與曲線、區間粒度分布數據與直方圖

和各種典型粒徑值等內容。

（7）符合標準ISO13320-1

為了滿足用戶對測試結果的準確性及重復性等可追蹤性的要求， HYL系

列激光粒度分布儀*符合ISO13320-1標準。每臺激光粒度儀都嚴格經

國家標準物質的檢驗,各項指標*合格后方可投入市場。

標準物質對照表

樣品編號

粒度

D10D16D25D50D75 D84D90

GBW(E)120009

標準值(微米)

19.1±1.47

22.8±1.53

27.0±1.80

36.7±1.57

44.5±1.95

48.9±2.73

53.1±3.54

測量值1(微米)

19.19

22.9

27.46

36.95

45.13

48.36

54.55

測量值2(微米)

19.3122.8727.6636.7545.3348.4254.30SB2005

標準值(微米)

3.60±2.1

4.80±1.5

6.80±0.6

9.00±1.2

10.50±2.1

測量值1(微米)

2.543.654.696.799.18

10.45

11.76 

測量值2(微米)

2.65

3.7

4.71

6.81

9.22

10.56

11.80