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GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料
閱讀：1695 發布時間：2016-3-7
GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料
GJ03-802光子相關納米粒度儀是玖久儀器公司向您推薦的新一代粒度儀
儀器特點：
1.先進的測試原理
該儀器采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
2.高靈敏度與信噪比
核心部件采用我公司自主研制CR256數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態光 散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
3.穩定的光路系統
采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性；
4.高精度恒溫控制系統
采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩定性。
技術參數
執行標準
GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996
GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍1 ~ 10000nm（與樣品有關）
準確度< 1%（標準樣品平均粒徑）
重復性< 1%（標準樣品平均粒徑）
測試濃度0.1mg/ml ~ 100mg/ml（與樣品有關）
激光半導體激光器，λ= 532nm， P=30mW
探測器光電倍增管（PMT）
散射角90o
樣品池10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL
測試溫度5 ~ 40 ℃
溫控精度±0.2 ℃
測試速度< 5Min
體積480mm×270mm×170mm
重量12Kg
數字相關器
規格型號CR256
自相關通道256
基線通道4
單位延遲時間100ns ~ 10ms